安裝篇

2020年春節(jié)前夕，通過工程師的安裝調(diào)試和細(xì)致的講解培訓(xùn)，第二代電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡（PSM II）在杭州創(chuàng)新研究院順安裝并完成驗(yàn)收。該系統(tǒng)是國(guó)內(nèi)第二套PSM II，也是國(guó)內(nèi)第六套PSM。PSM II將用于塊體和薄膜熱電材料的塞貝克系數(shù)、均勻度檢測(cè)與新型熱電材料的研究。這套設(shè)備的投入使用將幫助杭州創(chuàng)新研究院在熱電材料域取得更快的發(fā)展。

德國(guó)工程師Dieter Platzek（中）與用戶老師合影

設(shè)備篇

電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡是由德國(guó)PANCO公司與德國(guó)宇航中心聯(lián)合研發(fā)的款可以精確測(cè)量熱電材料Seebeck系數(shù)二維分布的設(shè)備。自推出以來，該設(shè)備獲得多個(gè)實(shí)驗(yàn)室的*，已經(jīng)成為快速精準(zhǔn)檢測(cè)樣品性能的重要手段。后經(jīng)研發(fā)人員的進(jìn)步升，全新推出的第二代電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡-PSM II具有更高的位置分辨率和測(cè)量精度。

產(chǎn)品點(diǎn)：

• 可以精確測(cè)量Seebeck系數(shù)二維分布的商業(yè)化設(shè)備。

• 精確的力學(xué)傳感器可以確保探針與樣品良好的接觸。

• 采用鎖相技術(shù)，精度超過大型測(cè)試設(shè)備。

• 快速測(cè)量、方便使用，可測(cè)塊體和薄膜。

主要技術(shù)參數(shù)：

位置定位精度：?jiǎn)蜗?0.05μm；雙向 1μm

大掃描區(qū)域：100 mm × 100 mm

測(cè)量區(qū)域精度：5μm (與該區(qū)域的熱傳導(dǎo)有關(guān))

信號(hào)測(cè)量精度：100 nV （采用高精度數(shù)字電壓表）

測(cè)量結(jié)果重復(fù)性：重復(fù)性誤差于3%

塞貝克系數(shù)測(cè)量誤差：< 3% (半導(dǎo)體)；< 5% (金屬)

電導(dǎo)率測(cè)量誤差：< 4%

測(cè)量速度：測(cè)量個(gè)點(diǎn)的時(shí)間4~20秒

應(yīng)用域：

• 熱電材料、超導(dǎo)材料、燃料電池、電子陶瓷以及半導(dǎo)體材料的均勻度測(cè)量

• 測(cè)量功能梯度材料的梯度

• 觀察材料退化效應(yīng)

• 監(jiān)測(cè) NTC/PTC 材料的電阻漂移

• 固體電介質(zhì)材料中的傳導(dǎo)損耗

• 陰材料的電導(dǎo)率損耗

• 巨磁阻材料峰值溫度的降低，電阻率的變化

• 樣品的質(zhì)量監(jiān)控

電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡-PSM II