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X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發(fā)下，被測元素原子的內層電子發(fā)生能級躍遷而發(fā)出次級X射線(即X-熒光)。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。
波長色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF)，是用晶體分光而后由探測器接收經過衍射的特征X射線信號。如果分光晶體和控測器作同步運動，不斷地改變衍射角，便可獲得樣品內各種元素所產生的特征X射線的波長及各個波長X射線的強度，可以據此進行定性和定量分析。
能譜色散型X熒光光譜儀(ED-XRF)，用X射線管產生原級X射線照射到樣品上，所產生的特征X射線(熒光)直接進入半導體探測器，便可以據此進行定性分析和定量分析。
WDX-4000型順序式波長色散X射線熒光光譜儀作為天瑞儀器X射線熒光光譜儀的明星產品之一，配備了大功率高壓光管和高壓電源，功率可達4千瓦、管壓60kV、電流160mA；標配5個分光晶體，能更有效的激發(fā)微量元素的特征譜線；與行業(yè)內其他XRF產品相比，具備更高的分辨率和更低的檢出限。該儀器能檢測元素周期表上從Be(4)到U(92)的元素，適用于地質、水泥、鋼鐵等多個行業(yè)的檢測分析，能滿足不同用戶的多種應用需求。此外，WDX-4000還是天瑞儀器環(huán)境檢測產品體系中的主力產品，可用于土壤中無機元素、環(huán)境空氣顆粒物以及固廢物中無機元素的檢測，并參與相關標準的制訂。
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