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X射線衍射儀是一種常用的檢測儀器，利用波長很短的電磁波能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機乳膠感光、氣體電離，測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，的進行物相分析，定性分析，定量分析。
X射線衍射儀的原理：
x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果，便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。
對于晶體材料，當(dāng)待測晶體與入射束呈不同角度時，那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來，體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內(nèi)存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。
X射線衍射儀應(yīng)用范圍：
工業(yè)用X射線衍射儀在當(dāng)今科技領(lǐng)域里用來分析各種物質(zhì)成分結(jié)構(gòu)的測試儀器已得到了廣泛的應(yīng)用。對材料學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、地質(zhì)、環(huán)境、納米材料、生物等領(lǐng)域來說，X射線衍射儀都是物質(zhì)表征和質(zhì)量控制*的方法。XRD能分析晶體材料諸如產(chǎn)業(yè)廢棄物、礦物、催化劑、功能材料等的相組成分析，大部分晶體物質(zhì)的定量、半定量分析；晶體物質(zhì)晶粒大小的計算；晶體物質(zhì)結(jié)晶度的計算等。
X射線衍射儀使用范圍：
金屬材料：半導(dǎo)體材料、合金、超導(dǎo)材料、粉末冶金材料；無機材料：陶瓷材料、磁性材料、催化劑、礦物、水泥、玻璃；復(fù)合材料：碳纖維、纖維大分子、工業(yè)廢棄物；有機材料：醫(yī)藥品、工程塑料、各種樹脂等。
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