前言使用： ICP-OES 分析樣品時(shí)，需要考慮的一個(gè)主要問題是樣品中總?cè)芙鈶B(tài)固體 (TDS) 的含量。許多常見樣品中含有高濃度的 TDS，例如環(huán)境實(shí)驗(yàn)室常分析的土壤、污泥和鹽溶液等樣品，以及礦物、采礦和土壤實(shí)驗(yàn)室日常分析的各種酸消解液和熔融物等。樣品中的 TDS 含量通常決定了使用哪種 ICP-OES 儀器進(jìn)行分析。一般來說，分析 TDS 含量不超過 3% 的樣品時(shí)，通常會(huì)使用配備水平炬管的 ICP-OES 儀器。分析 TDS 含量更高的樣品時(shí)，則通常會(huì)使用帶垂直炬管的徑向觀測(cè)儀器。分析高 TDS 樣品時(shí)，還需注意要使用穩(wěn)定的射頻 (RF) 發(fā)生器系統(tǒng)以及可應(yīng)對(duì)復(fù)雜樣品的炬管。

垂直炬管的優(yōu)勢(shì)：配備垂直炬管的徑向觀測(cè)儀器可以處理 TDS 含量高的樣品。然而，徑向觀測(cè)等離子體（從炬管側(cè)邊觀測(cè)等離子體）的檢測(cè)限不如軸向觀測(cè)等離子體（從炬管端口觀測(cè)等離子體，沿著等離子體的中心通道）。如需更低的檢測(cè)限，可在配備水平炬管的儀器上配備一個(gè)能應(yīng)對(duì)高濃度 TDS 的特殊設(shè)計(jì)的耐高鹽炬管。但是，這種系統(tǒng)的精密度和長(zhǎng)期穩(wěn)定性不如配備垂直炬管的系統(tǒng)，而且還必須更加頻繁地清潔或更換炬管。 Agilent 5900 和 5800 ICP-OES 儀器現(xiàn)有的每種配置都采用了強(qiáng)適應(yīng)性的垂直炬管，如表 1 所示。垂直炬管可幫助分析人員輕松應(yīng)對(duì)包括高基質(zhì)和揮發(fā)性有機(jī)溶劑在內(nèi)的具挑戰(zhàn)性的樣品。垂直炬管設(shè)計(jì)確保您能以性能實(shí)現(xiàn)對(duì)復(fù)雜樣品的穩(wěn)定測(cè)量，清潔需求更少，停機(jī)時(shí)間更短。由于垂直炬管的使用壽命更長(zhǎng)，因此更換次數(shù)也更少。

5900 同步垂直雙向觀測(cè) (SVDV) ICP-OES 采用*的智能光譜組合 (DSC) 技術(shù)，能夠以低的單個(gè)樣品氬氣消耗量快速測(cè)量樣品（圖 1）。SVDV 配置可在軸向、徑向、垂直雙向觀測(cè)和同步垂直雙向觀測(cè)模式下運(yùn)行。

5800 垂直雙向觀測(cè) (VDV) ICP-OES 可實(shí)現(xiàn)高樣品通量。此外，如果需要更高的樣品通量，還可在現(xiàn)場(chǎng)將其全面升級(jí)為 SVDV 配置。5800 RV ICP-OES 是需要快速、高性能徑向 ICP-OES 的實(shí)驗(yàn)室的理想選擇。

結(jié)論: Agilent 5900 和 安捷倫5800 ICP-OES儀器使用的強(qiáng)適應(yīng)性垂直炬管提供了分析復(fù)雜樣品的配置，同時(shí)還實(shí)現(xiàn)了軸向觀測(cè)等安捷倫離子體的預(yù)期精密度。 SSRF 系統(tǒng)能夠提供可靠、穩(wěn)定且免維護(hù)的等離子體以及出色的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，即使棘手的樣品也是如此。使用易安裝炬管并利用 MFC 控制所有等離子體氣體，能夠省去炬管校準(zhǔn)步驟（在分析挑戰(zhàn)性樣品時(shí)，這一步驟通常*），確保獲得一致且可重現(xiàn)的結(jié)果。