環(huán)境類可靠性試驗標(biāo)準(zhǔn)，大家一起看看

1、環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)目錄

GJB150.1A-2009  通用要求

GJB150.2A-2009  低氣壓（高度）試驗

GJB150.3A-2009  高溫試驗

GJB150.4A-2009  低溫試驗

GJB150.5A-2009  溫度沖擊試驗

GJB150.7A-2009  太陽輻射試驗

GJB150.8A-2009  淋雨試驗

GJB150.9A-2009  濕熱試驗

GJB150.10A-2009 霉菌試驗

GJB150.11A-2009 鹽霧試驗

GJB150.12A-2009 沙塵試驗

GJB150.13A-2009 爆炸性大氣試驗

GJB150.14A-2009 浸漬試驗

GJB150.15A-2009 加速度試驗

GJB150.16A-2009 振動試驗

GJB150.17A-2009 噪聲試驗

GJB150.18A-2009 沖擊試驗

GJB150.20A-2009 炮擊振動試驗

GJB150.21A-2009 風(fēng)壓試驗

GJB150.22A-2009 積冰/凍雨試驗

GJB150.23A-2009 傾斜和搖擺試驗

GJB150.24A-2009 溫濕振高度試驗

GJB150.25A-2009 振動-噪聲-溫度試驗

GJB150.26A-2009 流體污染試驗

GJB150.27A-2009 爆炸分離沖擊試驗

GJB150.28A-2009 酸性大氣試驗

GJB150.29A-2009 彈道沖擊試驗

GJB150.30A-2009 艦船沖擊試驗

2、艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗?zāi)夸洠?/span>

GJB4.1艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 總則

GJB4.2艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 高溫

GJB4.3艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 低溫

GJB4.4艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 低溫貯存

GJB4.5艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 恒定濕熱

GJB4.6艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 交變濕熱

GJB4.7艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 振動

GJB4.8艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 顛震

GJB4.9艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 沖擊

GJB4.10艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 霉菌

GJB4.11艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 鹽霧

GJB4.12艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 日光輻射

GJB4.13艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 外殼防水

3、可靠性試驗檢測標(biāo)準(zhǔn)

GJB1032電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法

GJB 899A-2009可靠性鑒定和驗收試驗 

GJB 367A－2001軍用通信設(shè)備通用規(guī)范 

4、其他常用軍標(biāo)

GJB 367A－2001軍用通信設(shè)備通用規(guī)范

GJB 322A-1998軍用計算機通用規(guī)范 

GJB 3947A軍用電子測試設(shè)備通用規(guī)范

GJB 548B-2005微電子器件試驗方法

GJB 360B-2009電子及電氣元件試驗方法

GJB128A-1997半導(dǎo)體分立器件試驗方法