TOFD全解析-09-檢測(cè)前準(zhǔn)備-盲區(qū)的計(jì)算

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前面講了主機(jī)、探頭和楔塊的準(zhǔn)備，其實(shí)要準(zhǔn)備的東西還挺多，聽(tīng)我給您一一道來(lái)。

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前面“TOFD全解析-07-等聲時(shí)橢圓線及盲區(qū)”中曾經(jīng)提到了TOFD檢測(cè)盲區(qū)的問(wèn)題，因而在檢測(cè)前的準(zhǔn)備中，就需要了解具體的盲區(qū)是多少，這樣有助于進(jìn)行工藝的選擇。同時(shí)還需要了解如何減少TOFD檢測(cè)的盲區(qū)。

咱們先來(lái)看一下如果計(jì)算TOFD檢測(cè)的直通波盲區(qū)：

假設(shè)聲速為c,探頭中心距為2s,直通波到達(dá)時(shí)間TL=2s/c,直通波脈沖時(shí)間寬度為T(mén)p,則

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上表面的上表面盲區(qū)計(jì)算公司可知，在聲速一定的前提下，減小探頭中心距（PCS）可以減小上表面盲區(qū)，但同時(shí)由于上表面焊縫余高和覆蓋范圍的限制，有時(shí)無(wú)法減小探頭中心距。

從上面公式可知，還可以通過(guò)通過(guò)減小直通波脈沖時(shí)間的方法來(lái)減小盲區(qū)，而直通波脈沖時(shí)間與探頭頻率相關(guān)，頻率越高，脈沖時(shí)間越小。因而通過(guò)提高探頭頻率也可以減小上表面盲區(qū)，但同時(shí)穿透能力下降。

如果PCS和探頭都無(wú)法改變的時(shí)候，該如何彌補(bǔ)上表面的盲區(qū)呢？

- TOFD與脈沖反射法組合檢測(cè)

通過(guò)相控陣或者常規(guī)超聲的二次斜入射聲波可以覆蓋工件的上表面缺陷。

- 爬波檢測(cè)上表面盲區(qū)

通過(guò)爬波探頭，生產(chǎn)表面的爬波聲束，也可以覆蓋上表面盲區(qū)部分，但通常爬波的傳播距離有限，因而也跟焊帽寬度有關(guān)，如果焊帽寬度太寬，也可能無(wú)法完整覆蓋整個(gè)上表面區(qū)域。

- 雙面掃查減小盲區(qū):

上表面盲區(qū)通常超過(guò)5mm,而下表面盲區(qū)只有0.5-1mm,軸偏離底面盲區(qū)一般也只有1-3mm，因而可以利用下表面盲區(qū)更小的特點(diǎn)，使用雙面掃查來(lái)提高表面盲區(qū)。

- 渦流\磁粉\滲透檢測(cè)上表面盲區(qū)

通過(guò)其他的表面檢測(cè)手段來(lái)彌補(bǔ)上表面的盲區(qū)部分。

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焊縫中心底面盲區(qū):通常很小,對(duì)于底面無(wú)余高的焊縫,盲區(qū)一般不超過(guò)1mm,甚至小于0.5mm.如果底面有余高,盲區(qū)會(huì)增大,余高部分處于盲區(qū)范圍,因而其中的缺陷不能檢出.

軸偏離底面盲區(qū):距離中心線越遠(yuǎn),盲區(qū)高度越大.增加PCS可以減小軸偏離底面盲區(qū) .

對(duì)于X型坡口,由于熱影響區(qū)缺陷的軸偏離大,不利于檢出,所以可以考慮增加兩次偏置掃查,以防止盲區(qū)內(nèi)缺陷漏檢.

待續(xù)

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