該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
性能指標(biāo):
波長范圍及峰值波長:
探頭:(光譜響應(yīng)曲線)
λ:(320~400)nm;λP=365nm
探頭:(光譜響應(yīng)曲線)
λ:(375~475)nm;λP=420nm
輻照度測量范圍:(0.1~199.9×103)μW/cm2
紫外帶外區(qū)雜光:小于0.02%
準(zhǔn)確度:±10%
角度響應(yīng)特性:二光照度計標(biāo)準(zhǔn)
響應(yīng)時間:1秒
環(huán)境溫度:(0~40)℃;
環(huán)境濕度:<85%RH
尺 寸:180mm×80mm×36mm;
重 量:0.2kg
電 源:9V積層電池一只
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