介電損耗測量系數(shù)（tgδ）是描述電氣設(shè)備絕緣材料性能的重要參數(shù)。通常定義為介電損耗中有功損耗與無功損耗之比。一般而言，電氣設(shè)備的介電損耗系數(shù)越大，其整體絕緣性就越高。因此，性能越差，介電損耗測量系數(shù)的準(zhǔn)確測量就成為評估電氣設(shè)備絕緣性能的重要技術(shù)手段。

在傳統(tǒng)的測量方法中，介電損耗測量的經(jīng)典方法是西林電橋方法。通常，嚴(yán)格使用50Hz測試電源，該電源對現(xiàn)場電源頻率干擾敏感。由于需要配置高精度標(biāo)準(zhǔn)電容器，因此很難實現(xiàn)高壓電纜。介電損耗測量。

隨著計算機(jī)和微電子技術(shù)的發(fā)展，基于相差測量，離散傅立葉分析和電容性電流補(bǔ)償?shù)臄?shù)字介電損耗測量技術(shù)逐漸發(fā)展起來。利用計算機(jī)強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力，數(shù)字介電損耗測量設(shè)備原則上，它不再依賴于電容器標(biāo)準(zhǔn)，并且通過雙頻（工頻/差頻）測量原理，具有很強(qiáng)的抗干擾能力，因此，它廣泛用于離線和在線測量場合。

近年來，隨著振蕩波測試技術(shù)的應(yīng)用，逐漸推導(dǎo)了基于衰減時間常數(shù)測量的介電損耗測量技術(shù)。介電損耗測試儀主要采用諧振條件下的容抗和感抗相等的原理。損耗理論和測試結(jié)果顯示了交聯(lián)聚乙烯電纜介電損耗的三個主要來源：半導(dǎo)層的傳導(dǎo)損耗，極化/弛豫損耗和電阻損耗，并且在低頻，中頻和高頻中起著主導(dǎo)作用頻率依次。

由于交聯(lián)聚乙烯電纜的充電容量大，絕緣電阻大，因此正常條件下的介電損耗系數(shù)很小，檢測困難，檢測精度低。它通常僅用于評估絕緣嚴(yán)重降低的情況，或者因局部缺陷或早期絕緣故障而導(dǎo)致的故障更加復(fù)雜。