ls486cml520mmid329991-50sn21227光電掃描
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海德漢的大多數(shù)光柵尺采用光電掃描原理。光電掃描在工作中無接觸,因此無磨損。光電掃描可以檢測到非常細(xì)小的光
柵,柵線寬度可僅數(shù)微米,并能輸出非常細(xì)小的信號周期信號。
測量基準(zhǔn)的柵距越小,光電掃描的衍射現(xiàn)象越嚴(yán)重。海德漢直線光柵尺采用兩種掃描原理:
• 成像掃描原理用于20 µm至大約40 µm的柵距
• 干涉掃描原理用于更小柵距的光柵,
例如,8 µm。
成像掃描原理
簡單地說成像掃描原理是用透射光生成信號:兩個柵距相同或相近的光柵與掃描掩
膜彼此相對運動。掃描掩膜的基體為透明色,而作為測量基準(zhǔn)的光柵材料可為透明
材料也可以為反光材料。
當(dāng)平行光穿過光柵時,以特定的間隔形成明暗的光影區(qū)。掃描光柵位于此處。當(dāng)兩
個光柵相對運動時,入射光進行調(diào)制:在狹縫對齊時,光線通過。如果一個光柵的
刻線與另一個光柵的狹縫對齊,光線無法通過。光電池組將這些光強變化轉(zhuǎn)化成電
信號。特殊結(jié)構(gòu)的掃描掩膜將光強調(diào)制為近正弦輸出信號。
光柵條紋的柵距越小,掃描掩膜與光柵尺間的間距越小和公差越嚴(yán)。
LC、LS和LB系列直線光柵尺為成像掃描原理。
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