針對測量場景量身定制的陣容

來源：上海藍(lán)圖機(jī)械設(shè)備有限公司 2020年07月15日 14:01

分光干涉位移型多層膜厚測量儀 SI-T 系列

從單層到多層，

可以實(shí)現(xiàn)在線穩(wěn)定測量全新

針對測量場景量身定制的陣容

多層位移測量型 SI-T10

參考距離 :

9 mm

測量范圍 :

0.01 ～ 1.0 mm

特點(diǎn)

長距離厚度測量型 SI-T80

參考距離 :

80 mm

測量范圍 :

0.01 ～ 1.0 mm

特點(diǎn)

設(shè)定80 mm 的長距離
抗工件抖動(dòng)
有利于高溫工件
粘附層也可以穩(wěn)定測量借助 KEYENCE *的光量累計(jì)功能，類似粘附層等粗糙的表面，也可以實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定測量。
實(shí)現(xiàn)廣范圍測量
在拉伸制程等過程中，可以應(yīng)用于上游至下游的各種場所。

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