北京時(shí)代TT220涂層測(cè)厚儀校準(zhǔn)方法
     TT220涂層測(cè)厚儀有兩種測(cè)量中使用的校準(zhǔn)方法，零點(diǎn)校準(zhǔn)；二點(diǎn)校準(zhǔn)；還有一種針對(duì)測(cè)
 頭的基本校準(zhǔn)。
 TT220涂層測(cè)厚儀零點(diǎn)校準(zhǔn)
 a． 在基體上進(jìn)行一次測(cè)量，儀器顯示＜×.×µm＞。
 b． 按一下“ON/C”鍵，屏顯＜0.00µm＞即完成零點(diǎn)校準(zhǔn)。
 c． 要準(zhǔn)確地校準(zhǔn)零點(diǎn)，須重復(fù)上述 a、b 以獲得基體測(cè)量值小于 1µm，這
 樣有利于提高測(cè)量精度。零點(diǎn)校準(zhǔn)完成后就可進(jìn)行測(cè)量了。
 涂層測(cè)厚儀TT220二點(diǎn)校準(zhǔn)
 a． 先校零點(diǎn)（見上）。
 b． 在厚度大致等于預(yù)計(jì)的待測(cè)覆蓋層厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量，屏
 幕顯示＜×××µm＞。
 c． 用▲或▼鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)片上的標(biāo)稱值。校準(zhǔn)已完成，可
 以開始測(cè)量了。
 注意：即使顯示結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)片值符合，按▲、▼鍵也是*的，例如
 按一次▲鍵一次▼鍵。
 如欲較準(zhǔn)確地進(jìn)行二點(diǎn)校準(zhǔn)，可重復(fù) b、c 過程，以提高校準(zhǔn)的精度，
 減少偶然誤差。

 涂層測(cè)厚儀TT220是磁性測(cè)厚儀，測(cè)量范圍0-1250um，