IC芯片檢測用恒溫恒溫試驗箱滿足標準

來源：東莞市皓天試驗設(shè)備有限公司 2020年10月12日 09:16

IC芯片檢測用恒溫恒溫試驗箱滿足標準

恒溫恒濕試驗箱滿足標準：

　　1.GJB150.3 高溫試驗

　　2.GJB150.4 低溫試驗

　　3.GJB150.9 濕熱試驗

　　4.GB11158 高溫試驗箱技術(shù)條件

　　5.GB10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件

　　6.GB10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件

　　7.GB/T10586-89 濕熱試驗箱技術(shù)條件

　　8.GB/T2423.1-2008 低溫試驗箱試驗方法

　　9.GB/T2423.2-2008 高溫試驗箱試驗方法

　　10.GB/T2423.3-2006 濕熱試驗箱試驗方法

　　11.GB/T2423.4-2008 交變濕熱試驗方法

　　12.GB/T2423.22-2002 溫度變化試驗方法

　　13.IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法

　　14.IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法

有關(guān)于更多的恒溫恒溫試驗箱歡迎大家來咨詢皓天設(shè)備，我們會為您一一作答!恒溫恒溫試驗箱在各個實驗當中起著非常重要的角色！

相關(guān)產(chǎn)品

凡本網(wǎng)注明“來源：化工儀器網(wǎng)”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品，未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的，應在授權(quán)范圍內(nèi)使用，并注明“來源：化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者，本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源（非化工儀器網(wǎng)）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權(quán)行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時，必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源，并自負版權(quán)等法律責任。
如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。

国产精品视频一区二区三区四,亚洲av美洲av综合av,99国内精品久久久久久久,欧美电影一区二区三区电影