無紡布靜電衰減測(cè)試儀采用直流充電法測(cè)試材料的靜電衰減特征，以評(píng)估其靜電特性。

應(yīng)用范圍：

1.用于實(shí)驗(yàn)室分析材料自身的靜電特性、評(píng)估抗靜電添加劑的功效、發(fā)展新型靜電防護(hù)材料；

2.用于在生產(chǎn)制造領(lǐng)域作為產(chǎn)品質(zhì)量控制設(shè)備，依據(jù)各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范來進(jìn)行靜電特性檢測(cè)和監(jiān)測(cè)。

符合標(biāo)準(zhǔn)：

美國無紡布靜電衰減測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IST 40.2(01)，美國聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C(Method 4046)，MIL-B-81705C，MIL-PRF-81705D，GB 19082，GJB2625

技術(shù)參數(shù)：

1.充電電壓：0～5.5kV；

2.誤差期設(shè)置：50%、10%、1%(0)；

3.電壓表量程：0-5kV；

4.計(jì)時(shí)器量程：1-99.99s；

5.計(jì)時(shí)分辨率：0.01s；

6.測(cè)試模式：手動(dòng)、自動(dòng)(只能測(cè)試從5kV開始的衰減)；

7.自動(dòng)測(cè)試次數(shù)：1-9次；

8.測(cè)試時(shí)間間隔：1-25秒；

9.輸入電源：86-264VAC，50/60Hz。

技術(shù)特點(diǎn)：

1.406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測(cè)試，金屬夾具可以測(cè)試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料；

2.選配IC管型夾具可以無損測(cè)試IC芯片包裝管；

3.選配806B無損測(cè)試電極可以直接放置在試樣上，還可以測(cè)試粉體和液體靜電衰減時(shí)間；

4.配套法拉第測(cè)試籠提供一個(gè)屏蔽空間，試樣放置在法拉第籠內(nèi)進(jìn)行測(cè)試，法拉第籠通過配套連接線連接406D主機(jī)；

5.法拉第籠具有互鎖裝置，打開法拉第籠時(shí)，高壓電源輸出被切斷；

6.STM-2驗(yàn)證模塊提供一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的電阻，電容直接采取系統(tǒng)電容，通過測(cè)試STM-2標(biāo)準(zhǔn)模塊可以驗(yàn)證是否正常；

7.位于法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測(cè)頭可以卸下，放置在806B無損電極上后，可以直接測(cè)試粉體、液體和固體試樣；

8.顯示：指針式充電電壓表(右)、指針式試樣電壓表(左)、數(shù)顯計(jì)時(shí)器(中)，彩色LED燈指示各個(gè)操作進(jìn)程。