芯片推力測試儀?采用電腦控制，實時顯示推、拉力，可記錄推、拉力值以及推、拉力平均值，并由試驗機軟件導出實驗數(shù)據(jù)。

芯片推力測試儀采用單立柱主體結構，廣泛適用于金屬合金、非金屬材料試樣的拉伸、壓縮、彎曲、剪切、剝離、撕裂等試驗，以及一些產(chǎn)品的特殊試驗?？煽啃愿?，并且容易操作，同時滿足GB、ISO、JIS、ASTM、DIN等多種標準要求，并可根據(jù)用戶需求編輯試驗軟件，定制試驗附具，是各類產(chǎn)品和材料制造商、高等院校、科研單位和各級產(chǎn)品質量監(jiān)督部門*的精密儀器。

芯片推力測試儀技術參數(shù)：

1. 產(chǎn)品規(guī)格：MX-0230

2． 等級：   0.5級

3． 負荷：   2000N

4． 有效測力范圍：0.1/100-99.9899%;

5． 試驗力分辨率，負荷±500000碼；內(nèi)外不分檔，且全程分辨率不變。

6． 有效試驗寬度：120mm

7． 有效試驗空間：300mm

8． 試驗速度:：0.001~500mm/min(任意調)

9. 速度精度：示值的±0.5以內(nèi)；

10．位移測量精度：示值的±0.5以內(nèi)；

11．變形測量精度：示值的±0.5以內(nèi)；

12．應力控速率范圍： 0.005～6FS/S

13．應力控速率精度： 速率＜0.05％FS/S時，為設定值的±1%以內(nèi)；速率≥0.05％FS/S時，為設定值的±0.5%以內(nèi)；

14．應變控速率范圍： 0.002%～6％FS/S

15．應變控速率精度： 速率＜0.05％FS/S時，為設定值的±2%以內(nèi)；速率≥0.05％FS/S時，為設定值的±0.5%以內(nèi)；

16. 恒力/位移/變形測量范圍：0.5％～99.999％FS

17．恒力/位移/變形測量精度：設定值＜10％FS時, 為設定值的±1%以內(nèi)； 設定值≥10％FS時, 為設定值的±0.1%以內(nèi)；

18．試臺升降裝置：快/慢兩種速度控制，可點動；

19．試臺安全裝置：電子限位保護

20．試臺返回：手動可以速度返回試驗初始位置，自動可在試驗結束后自動返回；

21．試驗定時間自動停車,試驗定變形自動停車,試驗定負荷自動停車

22．超載保護：超過負荷10時自動保護；

23. 自動診斷功能，定時對測量系統(tǒng)、驅動系統(tǒng)進行過載、過壓、過流、超負荷等檢查，出現(xiàn)異常情況立即進行保護

23．電源功率： 400W

24．主機重量： 40kg

25. 電源電壓:  220V（單相）