日本日置C測試儀3504-50產(chǎn)品詳細信息
日本日置C測試儀3504-50概述

封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等

■ BIN功能

C測量根據(jù)測量值多分類為14個等級※1，易于進行分揀等。 ※1 3506,3505多為13個等級。3504-40無BIN功能。

■ 比較器功能

第1參數(shù)(C)、第2參數(shù)(D)可各自設置上下限值。判定結果可進行蜂鳴、LED顯示以及外部輸出，設定值始終顯示。

■ 存儲功能

測量數(shù)據(jù)可保存在主機?？赏ㄟ^GP-IB，RS-232C讀出。　3506-10 ………………………………..1,000個　3504-60, 3504-50, 3504-40 ……32,000個

■ 只需選擇的簡單操作&LED顯示

只需從面板標記項目中進行選擇，操作簡單。設定好的測量條件會點亮，能夠一目了然把握設定條件。

■ 觸發(fā)同步輸出功能

施加觸發(fā)后輸出測量信號，僅在測量時將信號施加到被測物上。因為是在接觸被測物時流過大電流，因此能夠減少接點的損耗。

■可存儲99※2組測量條件

多可保存99組測量條件，可迅速對應在重復測量較多的產(chǎn)線上切換被測物的情況?？衫肊XT I/O讀出任意測量條件。 ※2 3506-10多為70組。

■標配接觸檢查功能

可檢測出測量過程中的接觸錯誤。可另外管理有過接觸錯誤的樣品，對提高成品率做出貢獻。

日本日置C測試儀3504-50特點

★ 高速測量2ms
★ 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷
★ 對應測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
★ 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
★ 3504-40記錄工具，實現(xiàn)高速/低成本的測試
★ 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率