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工業(yè)CT的檢測(cè)和研發(fā)應(yīng)用在哪些方面？
工業(yè)CT系統(tǒng)釆用輻射成像原理，實(shí)現(xiàn)對(duì)產(chǎn)品的非接觸式三維高精度掃描成像，可獲得產(chǎn)品內(nèi)部高精度的三維斷層數(shù)據(jù)和材料信息，它系統(tǒng)集現(xiàn)代化射線檢測(cè)技術(shù)自動(dòng)化控制技術(shù)和計(jì)算機(jī)處理技術(shù)于一身。工業(yè)CT是在射線檢測(cè)的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的,其基本原理是當(dāng)經(jīng)過(guò)準(zhǔn)直且能量為I0的射線束穿過(guò)被檢物時(shí),根據(jù)各個(gè)透射方向上各體積元的衰減系數(shù)μi不同,探測(cè)器接收到的透射能量I也不同。按照一定的圖像重建算法,即可獲得被檢工件截面一薄層無(wú)影像重疊的斷層掃描圖像,重復(fù)上述過(guò)程又可獲得一個(gè)新的斷層圖像,當(dāng)測(cè)得足夠多的二維斷層圖像就可重建出三維圖像。
如今，我們利用工業(yè)CT技術(shù)，可以進(jìn)行諸多檢測(cè)和研發(fā)工作，以下舉常見(jiàn)的一些應(yīng)用供大家參考：
1、缺陷檢測(cè)：
對(duì)工件的CT掃描斷層圖或三維圖像進(jìn)行分析，能夠快速、準(zhǔn)確、直觀的檢測(cè)到產(chǎn)品的內(nèi)部缺陷（缺陷類(lèi)型、位置、尺寸等）。如裂紋、氣孔、疏松、夾雜等缺陷，檢測(cè)精度可達(dá)1um。
通過(guò)對(duì)缺陷的檢測(cè)和分析，可以改善鑄造模具結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、工藝參數(shù)以及原料成分等；可以提高焊接性能、改善焊接工藝；還可以幫助找到失效原因供失效改進(jìn)。
2、孔隙率分析
依據(jù)VDGP201/P202的測(cè)試要求，對(duì)鑄件（壓鑄、注塑等）的內(nèi)部截面孔隙率進(jìn)行分析，主要指標(biāo)有孔隙占比、孔隙長(zhǎng)度、孔隙個(gè)數(shù)、聚集孔隙、粗大氣孔群等，用以評(píng)估內(nèi)部孔隙對(duì)于整個(gè)零件的危害程度是否滿足圖紙要求。
CT檢測(cè)孔隙率分析由于其非破壞性不僅可以替代常規(guī)的金相測(cè)試法，還可以幫助客戶滿足產(chǎn)品的前期設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)階段、中期檢驗(yàn)?zāi)＞叩某善仿室约伴L(zhǎng)期的質(zhì)量控制的要求。
3、裝配分析
使用工業(yè)CT可以不用拆卸，直觀了解產(chǎn)品的二維與三維局部整體、透視或截面分析圖，高效準(zhǔn)確地呈現(xiàn)裝配件內(nèi)部組成及其裝配關(guān)系，便于視覺(jué)直觀分析個(gè)部件內(nèi)部結(jié)構(gòu)以及裝配間隙公差等。
對(duì)于復(fù)雜結(jié)構(gòu)配件，一次CT掃描可以完成DR初檢、任意切片檢查、三維內(nèi)部結(jié)構(gòu)重現(xiàn)等，大限度確保檢測(cè)結(jié)果的可靠性。
CT檢測(cè)能在保證樣品完整性的前提下，可以用于評(píng)估裝配工藝、找出裝配問(wèn)題、協(xié)助樣品失效的分析以及輔助研發(fā)設(shè)計(jì)等。
4、尺寸測(cè)量
因物體型面復(fù)雜或客觀物理?xiàng)l件限制等原因會(huì)出現(xiàn)無(wú)法獲取的情況，CT技術(shù)能很好地應(yīng)對(duì)此類(lèi)問(wèn)題。區(qū)別于傳統(tǒng)的三坐標(biāo)檢測(cè)、影像儀等測(cè)量方法，CT尺寸測(cè)量?jī)?yōu)勢(shì)在于產(chǎn)品的內(nèi)部尺寸檢測(cè)。它可以在不破壞樣品的前提下，對(duì)于工件的所有尺寸進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)量，精度高、速度快。
5、數(shù)模比對(duì)
通過(guò)工業(yè)CT及分析軟件（VG）可以將CT數(shù)據(jù)與CAD數(shù)?；蛘逤T數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合，以直觀的顏色編碼對(duì)分析的結(jié)果進(jìn)行可視化，不僅可以得到工件整體的偏差，還能得到感興趣區(qū)域的具體偏差值。并且可用各種參數(shù)規(guī)定公差，例如偏差（大、小、累積偏差）
對(duì)于物體型面復(fù)雜、內(nèi)腔結(jié)構(gòu)限制或者材料原因出現(xiàn)無(wú)法提取到內(nèi)部數(shù)據(jù)信息的光學(xué)掃描方法，CT檢測(cè)的優(yōu)勢(shì)在于可以對(duì)內(nèi)外部所有結(jié)構(gòu)的進(jìn)行比對(duì)，且不太受材料吸光性等原因的影響。
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