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掃描電子顯微鏡(SEM) 是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質間的相互作用, 來激發(fā)各種物理信息, 對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達到1nm;放大倍數可以達到30萬倍及以上連續(xù)可調;并且景深大, 視野大, 成像立體效果好。
掃描電鏡是一款具有高精度的電子儀器，在使用過程中需要注意很多的東西，才能夠延長掃描電鏡的使用壽命，在操作中有哪些具體的要求呢？下面小編將詳細介紹一下，具體的要求如下：
1、有關樣品的要求：
需用掃描電鏡觀測的樣品，必須干燥，無揮發(fā)性，有導電性，能與樣品臺牢固粘結（塊狀試樣的下底部需平整，利于粘結）。粉末樣品用導電膠帶粘結后，需敲擊檢查，或用吹風機吹去粘結不牢固的粉末。含有機成份的樣品（包括聚合物等），需經過干燥處理。同一次裝入掃描電鏡的樣品，高度差不要超過1.5mm（包括同一塊樣品的表面高度也是如此）。對鑲嵌塊，斷面樣品等高度大的樣品，千萬不要對樣品臺平面聚焦，只能對樣品上表面聚焦。
2、有關電腦的特別提醒：
掃描電鏡的電腦是控制整臺掃描電鏡的，電腦的CMOS管理，顯示卡及驅動程序等與普通電腦不同，請不要當作普通電腦來使用。禁止修改電腦的任何設置，禁止安裝任何軟件。禁止使用USB接口、U盤。使用光驅或軟驅等需經電鏡管理人員檢查同意，嚴防病毒感染。電腦的許多指令要驅動掃描電鏡中的電氣部件或機械部件的一系列動作，時間可能較長，千萬不要連續(xù)點擊或按鍵，否則可能引起電腦死機。文件名不要超過8位，要以字母開頭。
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