日本凱特kett 200系列膜厚計采用了磁性和渦流兩種測厚方法

來源：深圳市偉峰儀器儀表有限公司 2021年03月23日 15:52

日本凱特kett 200系列膜厚計

本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損的測量磁性金屬基體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。

日本凱特kett 200系列膜厚計技術參數(shù)；

格型號	LE-200J	LH-200J	LZ-200J
測定對象	磁性金屬上非磁性涂鍍層	非磁性金屬上絕緣層	磁性金屬上非磁性涂鍍層非磁性金屬上絕緣層
測定范圍	0～1500um 或0～60.0mils	0～800um 或0～32.0mils	0～1500um 或0～60.0mils
測定精度	<50um±1um , >50um±2%
分辨率	<100um 0.1um , >100um 1um
功能統(tǒng)計	可設定上/下限數(shù)值，可分批統(tǒng)計大值、小值、平均值、標準差。數(shù)據(jù)可存儲，可連接電腦，內(nèi)置打印機、即時打印
計量單位	公制、英制可自由切換
顯示方式	LCD液晶屏
操作面板	密封防水多功能數(shù)字鍵盤
隨機附件	基體/校正標準片/電池/皮套/說明書/穩(wěn)壓電源/打印紙
電源	DV6V 5#堿性電池×6個（打印機另需4個），可接穩(wěn)壓電源
體積	175mm(W)×245(mmD)×31mm(H)
重量	1100g

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