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SEM力學(xué)樣品臺(tái)是在標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)的基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)力學(xué)控制模塊和控制單元。該系統(tǒng)采用感應(yīng)微壓頭，在掃描電鏡內(nèi)可直接觀察納米機(jī)械測(cè)試，不僅可以對(duì)納米材料進(jìn)行機(jī)械擠壓的成像，而且同時(shí)可以獲取載荷-位移數(shù)據(jù)。
在使用SEM力學(xué)樣品臺(tái)實(shí)驗(yàn)時(shí)，用戶選擇Push-to-Pull模塊可實(shí)現(xiàn)樣品拉伸實(shí)驗(yàn)，或者選擇加熱模塊可實(shí)現(xiàn)熱場(chǎng)和力場(chǎng)耦合實(shí)驗(yàn)，加熱模塊可選搭載push-to-pull模塊的程序升溫方式（RT-1000℃，1K），或者選擇加電模塊（*大電壓±50V，電流范圍： pA~mA ）。SEM力學(xué)樣品臺(tái)可以應(yīng)用的范圍有：
1、材料力學(xué)研究
（1）力和位移瞬態(tài)效應(yīng)相關(guān)材料的研究
（2）位錯(cuò)卒發(fā)研究
（3）應(yīng)力下的晶相轉(zhuǎn)變研究
（4）納米線、納米球的力學(xué)測(cè)試，剪切帶或者斷裂發(fā)生
（5）材料失效分析
2、材料力學(xué)測(cè)試
（1）壓痕測(cè)試
（2）拉伸測(cè)試（配拉伸臺(tái)）
（3）納米壓痕測(cè)試
（4）納米劃痕測(cè)試
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