CT勵磁測試（獨立）

按照被測CT互感器銘牌設定相應參數(shù)后，參照圖22接線，測試儀的S1、S2為電壓輸出端，試驗時將S1、S2分別接被測互感器的S1、S2（互感器的所有端子的連線都應斷開）。檢查接線無誤后，選擇“勵磁”選項，即開始測試，試驗結束后，測試儀會自動顯示勵磁（伏安）特性測試曲線（圖18），可以選擇 “保存” 、“打印”及“返回”選項進行下一步操作。                

圖22，CT勵磁特性接線圖            圖23， CT變比極性、角差比差接線圖

8.3.1.2  CT變比極性、角差比差測試（獨立）

按照被測CT互感器銘牌設定相應參數(shù)后，參照圖23接線，被測CT一次側接測試儀P1、P2，CT二次側接S1、S2，設置編號，檢查接線無誤后，選擇“變比極性”選項，即開始測試，試驗結束后，測試儀會自動顯示變比極性或角差比差測試結果（圖13），以選擇 “保存” 、“打印”及“返回”選項進行下一步操作。

儀器本身的同色端子為同相端，即L1接CT的P1，S1接CT的K1時，極性的測試結果為減極性。

8.3.2  PT測試結果

1、功能全面，既滿足各類CT（如：保護類、計量類、TP類）的勵磁特性（即伏安特性）、變比、極性、二次繞組電阻、二次負荷、比差以及角差等測試要求，又可用于各類PT電磁單元的勵磁特性、變比、極性、二次繞組電阻、比差等測試。

     2、現(xiàn)場檢定電流互感器無需標準電流互感器、升流器、負載箱、調壓控制箱以及大電流導線，使用極為簡單的測試接線和操作實現(xiàn)電流互感器的檢定，極大的降低了工作強度和提高了工作效率，方便現(xiàn)場開展互感器現(xiàn)場檢定工作。

     3、可精確測量變比差與角差，比差允許誤差±0.05%，角差允許誤差±2min，能夠進行0.2S級電流互感器的測量，變比測量范圍為1~40000。

     4、基于*變頻法測試CT/PT伏安特性曲線和10%誤差曲線,輸出僅180V的交流電壓和12Arms(36A峰值)的交流電流，卻能應對拐點高達60KV的CT測試。

     5、自動給出拐點電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準確限值系數(shù)（ALF）、儀表保安系數(shù)（FS）、二次時間常數(shù)(Ts)、剩磁系數(shù)(Kr)、飽和及不飽和電感等CT、PT參數(shù)。

     6、測試滿足GB1208（IEC60044-1）、GB16847(IEC60044-6) 、GB1207等各類互感器標準，并依照互感器類型和級別自動選擇何種標準進行測試。

     7、測試簡單方便，一鍵完成CT直阻、勵磁、變比和極性測試，而且除了負荷測試外，CT其他各項測試都是采用同一種接線方式。

     8、全中文動態(tài)圖形界面，無需參考說明書即可完成接線、設置參數(shù)：動態(tài)顯示參數(shù)設置，根據(jù)當前所選的試驗項目自動顯示其相關參數(shù)；動態(tài)顯示幫助接線圖，根據(jù)當前所選試驗項目，顯示對應的接線圖。

     9、5.7寸圖形透反式LCD，陽光下清晰可視。

     10、采用旋轉光電鼠標操作，操作簡單，快捷方便，極易掌握。

     11、面板自帶打印機，可自動打印生成的試驗報告。

     12、測試結果可用U盤導出，程序可用U盤升級，方便快捷。

     13、裝置可存儲1000組測試數(shù)據(jù)，掉電不丟失。

     14、配有后臺分析軟件，方便測試報告的保存、轉換、分析，可以用于試驗數(shù)據(jù)的對比、判斷與評估。

     15、易于攜帶，裝置重量<9Kg。

三：技術參數(shù)

相對于傳統(tǒng)的基于調壓器、升壓器、升流器的互感器

圖24，PT勵磁特性測試結果界面                    圖25，PT勵磁數(shù)據(jù)結果界面

圖26，PT二次負荷測試結果界面                    圖27，PT直阻測試結果界面                  

       圖28，PT變比、極性結果界面                       圖29，PT角差比差結果界面

1）、PT勵磁特性結果見圖24。

2）、PT二次負荷結果見圖26。

3）、PT直阻測試結果見圖27。

4）、PT變比、極性測試結果見圖28。

5）、PT直阻測試結果見圖29。

9.數(shù)據(jù)查詢

點擊數(shù)據(jù)查詢，進入如圖30所示界面，根據(jù)需要選擇“勵磁”、“變比”、“負荷”、“直阻”、“返回”等測試選項，選定測試項目后，進入圖31測試界面，顯示儀器中該項目下所保存的新的測試結果。

插上U盤，點擊“轉存”則會將當前頁面下所顯示的測試記錄轉存進入U盤之中。每條記錄所用時間約2秒鐘。

                          圖30，各測試結果查詢界面

                           圖31，測試結果調出界面