影響半微量分析天平稱量結(jié)果的因素有哪些？

來源：常州市幸運電子設(shè)備有限公司 2021年08月12日 09:46

半微量分析天平采用機械組件的密封結(jié)構(gòu)、*抑制了過去的天平難以抑制的因風對流而產(chǎn)生的搖晃。即使在通風柜內(nèi)也能比過去更穩(wěn)定地使用。

影響半微量分析天平稱量結(jié)果的因素有：

1、靜電的影響:會使稱量結(jié)果無法預(yù)料,或重或輕；

2、使稱盤接地、增加環(huán)境濕度；

3、空氣浮力的影響:樣品在空氣中其重量受浮力影響,該浮力的大小取決于樣品的體積，大氣壓力,空氣密度，溫度,濕度及海拔高度；

4、磁力的影響:磁性樣品會嚴重影響天平的重復(fù)性指標，對樣品予以退磁或用厚金屬板加以屏蔽。

半微量分析天平的使用注意事項：

1、拆下天平右側(cè)的傳感器保護螺桿，蓋上適配器盒內(nèi)的防塵蓋檢查防風罩是否正常(無防風罩例外)將秤盤輕輕放入。

2、請將電子天平放置于水平、穩(wěn)定無振動的臺面上使用。

3、避免將電子天平放置于溫度變化過大或空氣流動劇烈的場所，如日光直射或空調(diào)出風口。

4、不得在有腐蝕性的氣體或液體，以及影響儀器正常工作的電場和磁場的地方使用。

5、調(diào)整秤腳使水平泡處于中心位置。
幸運電子提供的半微量分析天平配備新型高度集成式電磁傳感器，所有型號可自動內(nèi)部校準，具有高精度和高可重復(fù)性的特點。且天平均配有一個很大的圖形顯示屏，便于用戶操作。

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