手機版
化工儀器網手機版
化工儀器網小程序
官方微信
公眾號：chem17
掃碼關注視頻號
研究級的分光光度計是利用物質分子對紫外可見光譜區(qū)的輻射的吸收來進行分析的一種儀器分析方法。這種分子吸收光譜產生于價電子能級的躍遷，它廣泛用于無機和有機物質的定性和定量分析。
研究級的分光光度計和人一樣，有也會出問題的時候，有時候會導致測量數據產生偏差，所以我們要定期對儀器進行檢測，使儀器一直都在穩(wěn)定準確的測量范圍內。那么需要哪些測量呢？一般為以下幾種：
研究級的分光光度計的波長準確度和波長重復性的檢測：
用氧化鈥溶液的241.13、278.10、287.18、333.44、345.47、361.31、416.28、451.30、485.29、536.64和640.52nm的吸收值進行檢定。檢定時先制造4%氧化鈥的10%高氯酸溶液，將儀器波長設置為700~200nm規(guī)模，狹縫小于1nm，以空氣為空白，調度透光率為。取上述氧化鈥溶液，置1cm石英吸收池中，放入樣品光路，以恰當的掃描速度制作氧化鈥溶液的吸收圖譜并打印出峰值，與規(guī)矩值相比較。重復測定三次，取平均值，核算波長準確度與重復性。
用鈥玻璃校正片替代氧化鈥溶液，測定方法同上，其尖銳吸收峰主要有279.4、287.5、333.7、360.9、418.5、460.0、484.5、536.2和637.5nm，校正片運用前有必要通過校正。
基線平直度的檢測：
按儀器要求進行基線校正后，調度狹縫2nm，掃描速度中速，取樣間隔1nm，樣品和參比光路均為空氣。在儀器波長下限處加10nm，波長上限處減50nm規(guī)模內進行掃描，丈量圖譜中起始點的吸光度與圖譜中違反起始點Z多的吸光度（即Z大違反點）之差即為基線平直度。容許制作的基線在替換光源或濾光片時微有跳動，必要時可在檢定前再進行一次基線校正。
線噪聲和線噪聲的測定：
儀器設置為時間掃描方法，波長設置為250nm，狹縫1nm，樣品和參比光路均為空氣，調整透光率為，用恰當的掃描速度做時間掃描2分鐘，查詢線的改動，然后再將擋光塊刺進樣品光路，查詢0%線的改動2分鐘，讀出各自峰的Z大（谷）值的差，與規(guī)矩值比較。儀器設置時間掃描方法，波長置500nm，按上述方法測定500nm波長處的和0%線噪聲。如儀器無時間掃描方法，也可將儀器波長調至規(guī)矩處，用目視查詢2分鐘，讀出各自峰的Z大（谷）值的差。
吸光度準確度的檢測：
將儀器波長設置于400~200nm，狹縫1nm，先用配對的吸收池均裝入0.005mol/L硫酸空白溶液，用適宜的掃描速度記載基線或自動校正基線，然后再將樣品光路改動放0.006%重鉻酸鉀硫酸溶液0.005mol/L硫酸空白溶液，掃描并打印峰谷值，核算吸收系數，重復測定三次，取其平均值與規(guī)矩的吸收系數答應規(guī)模進行比較，應符合表中的規(guī)矩。
相關產品
免責聲明
- 凡本網注明“來源：化工儀器網”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品，未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的，應在授權范圍內使用，并注明“來源：化工儀器網”。違反上述聲明者，本網將追究其相關法律責任。
- 本網轉載并注明自其他來源（非化工儀器網）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時，必須保留本網注明的作品第一來源，并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內與本網聯(lián)系，否則視為放棄相關權利。
采購中心