掃描電化學(xué)顯微鏡（SECM）是一種具有空間分辨的原位電化學(xué)技術(shù)，它是基于掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope，STM）和超微電極（Ultra- microelectrodes，UME）的發(fā)展而發(fā)明的一種原位掃描探針顯微鏡技術(shù)，它的分辨率介于STM和普通光學(xué)顯微鏡之間。掃描電化學(xué)顯微鏡可用于測量液體/固體，液體/氣體和液體/液體界面的局部界面的電化學(xué)行為。

掃描電化學(xué)顯微鏡與掃描隧道顯微鏡(STM)的工作原理類似。但SECM測量的不是隧道電流，而是由化學(xué)物質(zhì)氧化或還原給出的電化學(xué)電流。盡管SECM的分辨率較STM低，但SECM的樣品可以是導(dǎo)體，絕緣體或半導(dǎo)體，而STM只限于導(dǎo)體表面的測量。SECM除了能給出樣品表面的形貌外，還能提供豐富的微區(qū)化學(xué)或者電化學(xué)信息，其可觀察表面的范圍也大得多。

SECM具有多種操作模式：電流模式、電位模式、產(chǎn)生-收集模式、競爭模式以及表面問轉(zhuǎn)模式等。它可實(shí)現(xiàn)原位測量電極表面形貌以及電極溶液界面活性點(diǎn)位置、大小和物種濃度分布，從而能更加準(zhǔn)確的認(rèn)識(shí)材料表面的電化學(xué)過程及動(dòng)力學(xué)規(guī)律。目前，SECM已被廣泛應(yīng)用于材料，生命科學(xué)和藥學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域中。