手持式x射線熒光光譜儀主要是由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構成,主要用于質量控制的金屬合金辨別、材料成分辨別、廢料分揀、礦業(yè)勘探的地球化學分析和礦石品位控制、危險元素篩檢、消費商品和ROHS檢測,以及貴金屬的分析。
手持式x射線熒光光譜儀原理:
X射線管通過產生入射X射線(一次X射線),來激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線(又叫X熒光),并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量或者波長。然后,儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內層電子的躍遷,同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線,因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。
此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系。據(jù)此,可以進行元素定量分析。用X射線照射試樣時,試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線,需要把混合的X射線按波長(或能量)分開,分別測量不同波長(或能量)的X射線的強度,以進行定性和定量分析,為此使用的儀器叫X熒光光譜儀。
該儀器是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器,當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線和原子發(fā)生碰撞的時候,驅逐出一個內層的電子從而出現(xiàn)一個空穴,讓整個原子體系處于不穩(wěn)定狀態(tài),當較外層的電子躍遷到空穴時,產生一次光電子,擊出的光子可能再次被吸收從而逐出較外層的另一個次級光電子,發(fā)生俄歇效應,稱之次級光電效應或無輻射效應,而逐出的次級電子稱為俄歇電子。
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