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Resun Nanocoulter 技術(shù)用于納米尺度標準微球中小顆粒分析
——分析不同廠家生產(chǎn)標準球中小顆粒含量
納米微球的應(yīng)用非常廣泛，不同的應(yīng)用需要不同性能的微球，很多科研及商業(yè)應(yīng)用對納米微球的粒徑大小和均一性有*的要求，在微球應(yīng)用中，我們對納米微球粒徑的判斷一般是通過給定的標稱粒徑，而標稱粒徑外的顆粒必定對某些特定的應(yīng)用場合是有影響的。Resun Nanocoulter 技術(shù)能夠分析出對應(yīng)標稱粒徑標準球中的小顆粒含量，以此可以作為應(yīng)用評估的一個指標。
下面是 Resun Nanocoulter 測試兩個廠家標準球的小顆粒信號分析：
1）小顆粒在脈沖圖中體現(xiàn)：
2）根據(jù)粒徑與峰值的對應(yīng)關(guān)系，分析了兩個廠家（這里使用廠家B和廠家G）標稱粒徑150nm，200nm和300nm的標準微球中標稱粒徑67%以下的顆粒含量：
3）根據(jù)測試不同廠家標稱粒徑為150nm，200nm，300nm的微球，統(tǒng)計分析各粒徑CV值如下：
如上兩圖：
1）標稱粒徑150nm和300nm納米微球中，廠家B的小顆粒含量高與產(chǎn)家G的，標稱粒徑200nm納米微球中的廠家G的小顆粒含量較廠家B的高。
2）測試粒徑CV值中，廠家B的200nm微球CV小于廠家G的。
3）與電鏡數(shù)據(jù)的對照
以下是廠家B的標稱粒徑300nm的微球的SEM圖，從圖中可以明顯看到含有小顆粒。
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