干擾會降低局部放電測試的檢測靈敏度，應(yīng)將干擾電平抑制到低水平。干擾的種類通常包括：電源干擾、接地系統(tǒng)干擾、電磁輻射干擾、測試設(shè)備各部件的放電干擾、各種接觸干擾。這些干擾及其對測試回路的訪問。

　　一、電源干擾。探測器和測試變壓器使用的電源連接到低壓配電網(wǎng)，配電網(wǎng)中的各種高頻信號會直接造成干擾。因此，通常采用屏蔽電源隔離變壓器和低通濾波器進行抑制，效果非常好。

　　二、接地干擾。測試電路接地不當。例如，在有兩個或多個地的接地網(wǎng)系統(tǒng)中，各種高頻信號會通過接地線耦合到測試電路中，造成干擾。這種干擾通常與測試電壓水平無關(guān)。測試電路使用單點接地來減少這種干擾。

　　三、電磁輻射干擾。在高壓帶電設(shè)備或高壓輸電線路附近，無線電發(fā)射機和除測試電路之外的其他高頻信號如晶閘管和電刷以電磁感應(yīng)或電磁輻射的形式耦合到雜散或雜散電感上。測試電路，其波形往往難以與樣品的內(nèi)部放電區(qū)分開來，對現(xiàn)場測量影響很大。它的特點是與測試電壓無關(guān)。消除這種干擾的基本對策是將樣品放置在良好屏蔽的實驗室中。使用平衡法、對稱法和模擬天線法的測試回路也可以抑制輻射干擾。

　　四、暫停的潛在放電干擾。由靠近測試電路的未接地金屬產(chǎn)生的感應(yīng)浮動電位放電也是一種常見的干擾類型。它的特點是測試電壓升高，但其波形一般更容易識別。消除的對策一是遠離，二是接地。

　　五、電暈放電和每個接頭處的接觸放電干擾。電暈放電發(fā)生在高電位的試驗電路的導(dǎo)電部分，如試件法蘭、金屬帽、試驗變壓器、耦合電容端部、高壓端部等。帶領(lǐng)。由于各連接處接觸不良，測試電路中也可能出現(xiàn)接觸放電干擾。這兩種干擾的特性隨著測試電壓的增加而增加。消除此類干擾的方法是在高壓端采用防暈環(huán)措施（如防暈環(huán)），高壓引線采用不導(dǎo)暈的導(dǎo)電管，接頭之間接觸良好。

　　六、測試變壓器和耦合電容的內(nèi)部放電干擾。這種放電很容易與樣品的內(nèi)部放電相混淆。因此，所用試驗變壓器和耦合電容的局部放電水平應(yīng)控制在一定的允許量以下。