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二手電鏡是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段，采用大樣品室的半內(nèi)透鏡設(shè)計，卻能達到超高分辨率，主要用于對材料的微觀形貌、組織和成分進行有效分析。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質(zhì)間的相互作用，來激發(fā)各種物理信息，對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達到1nm；放大倍數(shù)可以達到30萬倍及以上連續(xù)可調(diào)；并且景深大，視野大，成像立體效果好。
此外，掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結(jié)合，可以做到觀察微觀形貌的同時進行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應(yīng)用。因此掃描電子顯微鏡在科學(xué)研究領(lǐng)域具有重大作用。
二手電鏡儀器特點：
1、新型物鏡采用的ExB設(shè)計。使用單檢測器和超級ExB可以分別收集和分離單純二次電子、混合二次電子及背散射電子的信號。
2、1KV低加速電壓，不使用減速功能，可保證有2.0nm的分辨率。
3、兩種樣品臺可選：I型50mmx50mm標(biāo)準(zhǔn)樣品臺或Ⅱ型110mmx110mm大樣品臺。
4、包括磁懸浮渦輪分子泵在內(nèi)的*的真空系統(tǒng)。
5、光闌自清潔技術(shù)，避免了光闌的污染。
可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多種信號，實現(xiàn)微區(qū)的形貌襯度、原子序數(shù)襯度、結(jié)晶襯度和電位襯度的觀測；結(jié)合選配的STEM探測器，還可以實現(xiàn)明場像和暗場像的觀測；此外在半導(dǎo)體應(yīng)用中，還可以安裝EBIC探測器，采集感生電流圖像，極大豐富了信號的采集，對樣品的信息的收集達到了新的高度。
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