XRF全稱X射線熒光光譜儀，由于其檢測速度快、分辨率高、實(shí)施無損檢測，所以被廣泛采用。X熒光的基本原理：當(dāng)一束高能粒子與原子相互作用時(shí)，如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結(jié)合能，將該軌道電子逐出，對應(yīng)的形成一個(gè)空穴，使原子處于激發(fā)狀態(tài)。此后在很短時(shí)間內(nèi)，由于激發(fā)態(tài)不穩(wěn)定，外層電子向空穴躍遷使原子恢復(fù)到平衡態(tài)，以降低原子能級。當(dāng)較外層的電子躍遷（符合量子力學(xué)理論）至內(nèi)層空穴所釋放的能量以輻射的形式放出，便產(chǎn)生了X熒光。X熒光的能量與入射的能量無關(guān)，它只等于原子兩能級之間的能量差。由于能量差*由該元素原子的殼層電子能級決定，故稱之為該元素的特征X射線，也稱熒光X射線或X熒光。X熒光光譜法就是由X射線光管發(fā)生的一次X射線激發(fā)樣品，試樣可以被激發(fā)出各種波長的特征X射線熒光，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強(qiáng)度，以進(jìn)行定性和定量分析的方法。該方法是一種非破壞性的分析方法。

X-MET8000系列手持式X射線熒光光譜儀提供進(jìn)行快速的合金等級鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準(zhǔn)確化學(xué)結(jié)構(gòu)分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用簡單，可為您提供可靠的結(jié)果。