接觸電阻測試的典型方法

四線（開爾文）直流電壓降是微歐表用于接觸電阻測試的典型方法，通過消除自身的接觸電阻和測試引線的電阻來確保更準確的測量。

　　接觸電阻測試使用兩個電流連接進行注入，使用兩個電位引線進行電壓降測量；電壓電纜必須盡可能靠近要測試的連接，并且始終位于連接的電流引線形成的電路內。

　　根據電壓降的測量，微處理器控制的微歐表計算接觸電阻，同時消除連接中的熱 EMF 效應可能產生的誤差（熱 EMF 是兩種不同金屬連接在一起時產生的小熱電偶電壓）它們將被添加到測量的總電壓降中，如果不通過不同的方法（極性反轉和平均，直接測量熱 EMF 幅度等）從測量中減去它們，則會在接觸電阻測試中引入誤差。

　　如果在使用低電流測試斷路器接觸電阻時獲得低電阻讀數(shù)，則建議在更高電流下重新測試觸點。為什么我們會受益于使用更高的電流？較高的電流將能夠克服端子上的連接問題和氧化，在這些條件下，較低的電流可能會產生錯誤的（較高的）讀數(shù)。

　　在接觸電阻測試中保持一致的測量條件非常重要，以便能夠與之前和未來的結果進行比較以進行趨勢分析。因此，在進行定期測量時，必須在相同的位置、使用相同的測試引線（始終使用制造商提供的校準電纜）和相同的條件下進行接觸電阻測試，以便能夠知道何時連接、連接、焊接或設備將變得不安全。

　　結論

　　熱導率的測量也受到接觸電阻的影響，在通過顆粒介質的熱傳輸中具有特別重要的意義。類似地，當流體從一個通道過渡到另一個通道時，靜水壓力（類似于電壓）會下降。

　　接觸電阻測試提供有關接觸的健康程度及其處理額定電流的能力的信息。

　　最大接觸電阻應根據制造商的規(guī)格進行驗證。不應超過額定電流，建議在額定電流的 10% 下進行測試。