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便攜式礦石分析儀真空型礦石成分分析光譜儀?的特點(diǎn)和應(yīng)用領(lǐng)域

來源:蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司   2022年09月20日 12:43  

便攜式礦石分析儀Compass-300真空型礦石成分分析光譜儀‍

 

X射線光譜現(xiàn)場分析技術(shù)是采用現(xiàn)場X射線光譜儀在采樣現(xiàn)場對(duì)待測目標(biāo)體中元素進(jìn)行快速地定性和定量分析技術(shù), 又稱為現(xiàn)場X射線熒光礦石分析儀。 根據(jù)現(xiàn)場分析的應(yīng)用場景與采樣方法, X射線光譜現(xiàn)場分析可分為X射線光譜現(xiàn)場原位分析和X射線光譜現(xiàn)場取樣分析。 現(xiàn)場原位分析是指將X射線光譜分析儀的探測窗直接置于巖(礦)石露頭或土壤或其他待測物料的表面, 在現(xiàn)場原生條件下獲取待測目標(biāo)體中元素種類和元素含量的分析方法; 現(xiàn)場取樣分析是指對(duì)待測目標(biāo)體進(jìn)行樣品采集, 甚至于對(duì)樣品進(jìn)行初步的加工和處理, 在現(xiàn)場工作條件下應(yīng)用X射線光譜儀獲取待測目標(biāo)體中元素種類和元素含量的分析方法。

礦石實(shí)驗(yàn)室分測試析的對(duì)象和任務(wù)要求分析測試方法具有檢出限低、檢測范圍寬、較高的準(zhǔn)確度和精密度。地球化學(xué)樣品的成分分析方法有傳統(tǒng)的化學(xué)分析法、電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP-AES)、電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)、原子吸收光譜(AAS)、X射線熒光光譜(XRF)法等?;瘜W(xué)分析法雖然使用儀器簡單,但對(duì)操作技術(shù)的要求高、操作比較繁瑣,使用大量的酸堿等化學(xué)試劑,分析流程較長,很難滿足日常生產(chǎn)的需求。同樣ICP-AES、ICP-MS、原子吸收光譜法在樣品前處理過程中也常用大量化學(xué)試劑,造成環(huán)境污染?;赬射線熒光光譜法的礦石成分分析儀Compass300具有樣品前處理簡單、分析周期短、重現(xiàn)性好、可同時(shí)測定多元素、測試成本低等優(yōu)點(diǎn)。

 

油品硫氯分析儀.jpg
Compass300測硫儀.jpg

 

Compass 300能量色散X射線熒光(EDXRF)基于臺(tái)式機(jī)的設(shè)計(jì)平臺(tái),其分析性能更接近于功率更高的落地式光譜儀,比一般便攜式設(shè)備測試效果更穩(wěn)定,更出眾。配備了*SDD檢測器, 同時(shí)實(shí)現(xiàn)了高分辨率,高計(jì)數(shù)率CPS和高靈敏度,從而達(dá)到實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的測試效果。

 

•Compass 300配備的SDD檢測器優(yōu)勢

>高分辨率:通常優(yōu)于130ev,降低相鄰元素干擾,并提高輕元素檢測效果

>高計(jì)數(shù)率:150,000 cps (high count per second)

得到相同的強(qiáng)度,只要普通Si Pin檢測器的0.2~0.05倍的時(shí)間,即Si Pin在設(shè)定分析時(shí)間為100秒的話,對(duì)SDD而言,得到相同的強(qiáng)度,只需5~20秒

>高靈敏度:靈敏度提高6-10倍。低背景值,提高元素檢測下限

•便攜,堅(jiān)固,緊湊的設(shè)計(jì),輕松實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場高精度樣品無損檢測

•可分析各種樣品形態(tài):包括礦體、礦塊、礦渣、礦粉、粗礦、精礦、尾礦、土壤、泥土、泥漿、灰塵、粉塵、過濾物、薄膜、廢水、廢油、液體樣品等

•只需制備少量樣品便可進(jìn)行無損檢測

•一鍵測試,一鍵打印報(bào)告

•可選配大容量電池,無需外部供電情況下可實(shí)現(xiàn)長時(shí)間工作

 

 

 

應(yīng)用領(lǐng)域

>分析礦種

涵蓋從Mg至U之間的金屬、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦等

>勘查

多元素現(xiàn)場快速分析,可廣泛應(yīng)用于普查、詳查的各個(gè)過程,追蹤礦化異常,擴(kuò)展勘查范圍??纱蟠鬁p少送回實(shí)驗(yàn)室樣品的數(shù)量,從而節(jié)約運(yùn)輸和分析費(fèi)用

>巖芯檢測

快速分析巖芯和和其他鉆探樣品,建立礦山三維圖,分析儲(chǔ)量,可大大提高鉆探現(xiàn)場及時(shí)決策效率

>開采過程控制

礦體邊界圈定,礦脈走向判定,對(duì)開采過程進(jìn)行精確管理和控制,對(duì)礦石品位進(jìn)行隨時(shí)檢測

>品位控制

對(duì)精礦、礦渣、礦尾等礦物品位進(jìn)行精確快速分析,為礦物貿(mào)易、加工以及再利用提供價(jià)值判斷依據(jù)

>環(huán)境分析

快速對(duì)礦石周圍環(huán)境、尾礦、粉塵、土壤污染等進(jìn)行分析與檢測,評(píng)估礦石環(huán)境修復(fù)效果

>石油化工:燃料,潤滑油,添加劑中的硫元素分析,磨損金屬分析

>刑偵及公安:證據(jù)分析,材料匹配,爆炸物等

>食品,化妝品和藥品:添加劑控制,原材料,有害金屬,包裝材料等

 

技術(shù)參數(shù)

探測器

高分辨率SDD檢測器

激發(fā)源

4瓦微型一體化光管

50kv Max,200uA Max

工作溫度

-20 to 50 °C

測量時(shí)間

30-300秒(用戶可自定義測試時(shí)間)

樣品類型

液體,固體和粉末

儀器校準(zhǔn)

開機(jī)自動(dòng)校準(zhǔn)

標(biāo)定曲線

地礦

儀器尺寸

270mm*320mm*230mm(長*寬*高)

樣品腔尺寸

170mm*110mm*17mm(長*寬*高)

儀器重量

10.5kg

顯示屏(分辨率1280*800)

8英寸 Win10操作系統(tǒng)

數(shù)據(jù)傳輸

USB Port, 藍(lán)牙, Wi-Fi, GPS

安全防護(hù)

輻射指示燈

內(nèi)置射線保護(hù)裝置(自動(dòng)切斷)

軟件警示

報(bào)告格式

Excel, PDF

配件及耗材

測試薄膜

礦樣粉末專用測試杯

取樣勺

測試窗口專用薄膜

可選配件

電池:連續(xù)工作八小時(shí)

壓片機(jī)

熔片機(jī)

電子秤

磨樣機(jī)

150目篩子

 

 

 

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