EDX9000B應(yīng)用于地球化學(xué)樣品的成分分析

隨著地球勘查工作的發(fā)展和區(qū)域地球化學(xué)調(diào)查工作的啟動,對地質(zhì)實驗測試分析工作提出很多針對性要求,同時也面臨著復(fù)雜的分析檢測任務(wù).地質(zhì)實驗室分測試析的對象和任務(wù)要求分析測試方法具有檢出限低,檢測范圍寬,較高的準確度和精密度.地球化學(xué)樣品的成分分析方法有傳統(tǒng)的化學(xué)分析法,電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP-AES),電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS),原子吸收光譜(AAS),X射線熒光光譜(XRF)法等.化學(xué)分析法雖然使用儀器簡單,但對操作技術(shù)的要求高,操作比較繁瑣,使用大量的酸堿等化學(xué)試劑,分析流程較長,很難滿足日常生產(chǎn)的需求.同樣ICP-AES,ICP-MS,原子吸收光譜法在樣品前處理過程中也常用大量化學(xué)試劑,造成環(huán)境污染.X射線熒光光譜儀EDX9000B具有樣品前處理簡單,分析周期短,重現(xiàn)性好,可同時測定多元素,測試成本低等優(yōu)點.由于XRF是表面分析技術(shù),X射線的強度隨著樣品的粒度和樣品不均勻而變化產(chǎn)生顆粒效應(yīng),地質(zhì)化探樣品成分復(fù)雜,組分含量低,樣品很難磨碎到500目以下,在粉末壓片XRF法中影響了測定的準確度和精密度.因此我們通過玻璃熔片法很好的解決了基體效應(yīng)及礦物效應(yīng)對測試的干擾，獲得了良好的檢測準確度和檢出限。