XRF分析測(cè)厚儀在金屬薄膜鍍層厚度和成分分析的應(yīng)用

來(lái)源：蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司 2022年10月11日 10:48

X射線測(cè)厚儀EDX8000B---金屬薄膜鍍層厚度和成分分析

EDX8000B鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用于金屬電鍍鍍層分析領(lǐng)域

技術(shù)指標(biāo)

多鍍層分析，1～5層；

測(cè)試精度：0.001 μm；

元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)；

測(cè)量時(shí)間：10~30秒；

SDD探測(cè)器，能量分辨率為125±5eV；

探測(cè)器Be窗0.5mil（12.7μm）；

微焦X射線管50kV/1mA，銠靶；

8個(gè)準(zhǔn)直器及多個(gè)濾光片自動(dòng)切換；

高清CCD攝像頭（500萬(wàn)像素），準(zhǔn)確監(jiān)控位置；

多變量非線性去卷積曲線擬合；

高性能FP無(wú)標(biāo)樣分析軟件；

測(cè)厚儀，專業(yè)表面處理檢測(cè)解決方案：EDX8000BX射線測(cè)厚儀，專用于檢測(cè)各種異形件，特別是五金類(lèi)模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。

xrf光譜圖

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