XRF分析測(cè)厚儀在金屬薄膜鍍層厚度和成分分析的應(yīng)用
X射線測(cè)厚儀EDX8000B---金屬薄膜鍍層厚度和成分分析
EDX8000B鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用于金屬電鍍鍍層分析領(lǐng)域
技術(shù)指標(biāo)
多鍍層分析,1~5層;
測(cè)試精度:0.001 μm;
元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U);
測(cè)量時(shí)間:10~30秒;
SDD探測(cè)器,能量分辨率為125±5eV;
探測(cè)器Be窗0.5mil(12.7μm);
微焦X射線管50kV/1mA,銠靶;
8個(gè)準(zhǔn)直器及多個(gè)濾光片自動(dòng)切換;
高清CCD攝像頭(500萬(wàn)像素),準(zhǔn)確監(jiān)控位置;
多變量非線性去卷積曲線擬合;
高性能FP無(wú)標(biāo)樣分析軟件;
測(cè)厚儀,專業(yè)表面處理檢測(cè)解決方案:EDX8000BX射線測(cè)厚儀,專用于檢測(cè)各種異形件,特別是五金類(lèi)模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。
相關(guān)產(chǎn)品
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