XRF分析測厚儀在金屬薄膜鍍層厚度和成分分析的應用

來源：蘇州英飛思科學儀器有限公司 2022年10月11日 10:48

X射線測厚儀EDX8000B---金屬薄膜鍍層厚度和成分分析

EDX8000B鍍層測厚儀應用于金屬電鍍鍍層分析領域

技術指標

多鍍層分析，1～5層；

測試精度：0.001 μm；

元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)；

測量時間：10~30秒；

SDD探測器，能量分辨率為125±5eV；

探測器Be窗0.5mil（12.7μm）；

微焦X射線管50kV/1mA，銠靶；

8個準直器及多個濾光片自動切換；

高清CCD攝像頭（500萬像素），準確監(jiān)控位置；

多變量非線性去卷積曲線擬合；

高性能FP無標樣分析軟件；

測厚儀，專業(yè)表面處理檢測解決方案：EDX8000BX射線測厚儀，專用于檢測各種異形件，特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。

xrf光譜圖

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