為了研究植物的生長(zhǎng)、產(chǎn)量和品質(zhì)與光能利用的關(guān)系，有必要調(diào)查植物冠層的光資源，測(cè)量植物冠層對(duì)光的截獲量。以前技術(shù)不成熟的時(shí)候，科研人員很難對(duì)其進(jìn)行測(cè)量和分析，往往需要大量的時(shí)間和精力。隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，冠層分析儀得到了研究者的廣泛應(yīng)用。從實(shí)際應(yīng)用來(lái)看，該儀器仍然可以發(fā)揮很大的作用。

冠層分析儀通過(guò)處理圖像數(shù)據(jù)文件獲得冠層結(jié)構(gòu)，如葉面積指數(shù)、光照間隙和間隙分布。通過(guò)分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息，可以計(jì)算出冠層截獲的PAR和冠層以下的輻射水平。因此，與直接測(cè)量方法相比，利用冠層分析儀測(cè)量冠層數(shù)據(jù)可以避免直接測(cè)量方法對(duì)植被造成大規(guī)模破壞的缺點(diǎn)。而且使用儀器進(jìn)行測(cè)量操作具有方便、不受時(shí)間限制、數(shù)據(jù)量大等優(yōu)點(diǎn)，非常適合現(xiàn)代農(nóng)業(yè)科研。目前，冠層分析儀廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)等領(lǐng)域與栽培、育種、植物類(lèi)群比較和開(kāi)發(fā)相關(guān)的研究和教學(xué)工作中，并在實(shí)際應(yīng)用中發(fā)揮了作用。