HORIBA熒光及吸收光譜儀Duetta概述

一臺光譜儀同時完成熒光和吸收光譜的采集

Duetta 可作為熒光光譜儀使用，也可以作為UV-Vis-NIR 光譜儀測量吸光度，或用于測量真正的分子指紋，這需要同步獲取熒光和吸光度，同時進行內濾效應校正。

瞬間獲得熒光光譜

Duetta 標配超快*CCD 技術，讓它在采集速度的數(shù)倍優(yōu)于任何使用PMT 的熒光光譜儀。Duetta 是一款能在100 毫秒內獲得250nm-1100nm 校正光譜信息的一體式熒光光譜儀。這一CCD 技術也將近紅外檢測光譜范圍擴展到1100 nm，遠超過標準PMT 熒光儀的光譜范圍。

高靈敏度

經過優(yōu)化設計的Duetta，擁有高水平的靈敏度，意味著可測更低濃度的樣品，并提供更準確的數(shù)據(jù)

EzSpecTM 觸屏操作軟件

Duetta 使用HORIBA 新一代EzSpec 軟件，使熒光光譜儀從此進入了智能觸屏時代，生動立體的人機互動，用戶體驗感前所WEI有；升級常規(guī)分析用軟件模塊，可具有定制化、個性化分析測試。

創(chuàng)新點

（1）配有吸收檢測器，吸收和熒光可同步檢測，一鍵校正內濾效應。

（2）熒光檢測器為CCD檢測器，掃描速度快，光譜掃描范圍寬，上限到達1100nm

（3）操作簡單，包括光源預準直，自動更換光源，自動加樣端口等

HORIBA熒光及吸收光譜儀Duetta特點

★ 同步吸收- 熒光光譜儀

★ UV-Vis-NIR 熒光檢測波長范圍250 nm-1100 nm

★  一秒內獲取三維熒光全譜

★ 超高熒光靈敏度，水拉曼RMS 6000:1

★  自動校準主次內濾效應

★ A-TEEM TM 指紋熒光技術，高保真識別分子指紋

★ CCD 檢測器實現(xiàn)毫秒內完成整個熒光光譜采集