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詳細(xì)分析便攜測(cè)厚儀的測(cè)量原理以及系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
便攜測(cè)厚儀是利用XRF原理來分析測(cè)量金屬厚度及物質(zhì)成分可用於材料的涂層/鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測(cè)。它的檢測(cè)時(shí)間只需要10-30秒即可獲得測(cè)量結(jié)果，最小測(cè)量面積為直徑為0.1mm的圓面積；測(cè)量范圍：0-35um；可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
便攜測(cè)厚儀的測(cè)量原理：
物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析。
便攜測(cè)厚儀系統(tǒng)結(jié)構(gòu)：
測(cè)量部分的結(jié)構(gòu)：用于照射的X射線是采用由上往下照射方式，用準(zhǔn)直器來確定X射線的光束大小。
樣品的觀察是利用與照射用的X射線同軸的CCD攝像機(jī)所攝制的圖像來確定想要測(cè)量的樣品位置。標(biāo)準(zhǔn)配備了多種尺寸的準(zhǔn)直器可根據(jù)需要調(diào)整照射X射線的光束大小來決定測(cè)量面積，最小可測(cè)量面積是40umф。
便攜測(cè)厚儀的特色：
1、非破壞，非接觸式檢測(cè)分析，快速精準(zhǔn)。
2、可測(cè)量高達(dá)六層的鍍層并可同時(shí)分析多種元素。
3、全系列*設(shè)計(jì)樣品與光徑自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)。
4、移動(dòng)方式：全系列全自動(dòng)載臺(tái)電動(dòng)控制，減少人為視差。
5、標(biāo)準(zhǔn)配備：溶液分析軟體，可以分析電鍍液成份與含量。
6、準(zhǔn)直器口徑多種選擇，可根據(jù)樣品大小來選擇準(zhǔn)值器的口徑。
7、標(biāo)準(zhǔn)ROI軟體：搭配內(nèi)建多種專業(yè)報(bào)告格式，亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計(jì)等作成完整報(bào)告。
8、相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測(cè)量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報(bào)告。
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