用LCR測(cè)試儀和阻抗分析儀都可以測(cè)量電子元件的阻抗，選擇哪款儀器更為合適具體可以參考儀器的功能及結(jié)合測(cè)量目的。

　　選擇LCR測(cè)試儀和阻抗分析儀時(shí)，首先要考慮的是測(cè)試對(duì)象的類型和測(cè)試要求。LCR測(cè)試儀主要用于測(cè)量電容、電感和阻抗三者的綜合數(shù)值，適用于測(cè)試電子元器件和電路的性能，也可以搭配LCR測(cè)試儀軟件使用；阻抗分析儀主要用于測(cè)量阻抗的大小和頻率特性，適用于測(cè)試電路中的阻抗。

　　另外，還要考慮儀器的精度和分辨率等參數(shù)。

　　一、測(cè)試儀器如何選？

　　1、LCR測(cè)試儀

　　通常采用單一頻率進(jìn)行測(cè)量并提供數(shù)值

　　2、阻抗分析儀

　　可以不斷地切換頻率進(jìn)行測(cè)量

　　提供頻率特性圖

　　可執(zhí)行等效電路分析

　　為了滿足高速、高穩(wěn)定性測(cè)量的需求，日置開發(fā)了一系列尺寸緊湊、寬頻率范圍、高性價(jià)比的阻抗測(cè)試產(chǎn)品，通過阻抗測(cè)試產(chǎn)品助力智能手機(jī)、平板電腦和汽車等眾多領(lǐng)域客戶輕松擴(kuò)大現(xiàn)有的生產(chǎn)線。

　　二、測(cè)試方法有何不同？

　　自動(dòng)平衡電橋法（ABB）、射頻電流-電壓法（RF I-V）是日置LCR測(cè)試儀和阻抗分析儀測(cè)試阻抗的方法。

　　使用自動(dòng)平衡電橋法的LCR測(cè)試儀或阻抗分析儀適用于較寬的頻率范圍內(nèi)測(cè)試較大阻抗，如低頻、通用測(cè)試；使用射頻電流-電壓法的儀器測(cè)試精度較高、能在高頻下測(cè)試較大的阻抗。

　　三、LCR測(cè)試儀程控軟件怎么選？

　　NS-LCR測(cè)試儀程控軟件用于測(cè)量BNT基陶瓷材料、金屬樣塊、變壓器、電阻等的阻抗、電容值和損耗值，可以根據(jù)設(shè)置的時(shí)間間隔和頻率點(diǎn)進(jìn)行相應(yīng)測(cè)試，實(shí)現(xiàn)整體測(cè)試過程的自動(dòng)化。

　　舉例說明：點(diǎn)頻連續(xù)測(cè)試功能介紹

　　在此界面中進(jìn)行試驗(yàn)的具體參數(shù)設(shè)置，選擇測(cè)試模式、測(cè)試頻率、輸出測(cè)試通道的所有參數(shù)，測(cè)試模式點(diǎn)擊選擇“點(diǎn)頻連續(xù)測(cè)試”，并設(shè)置測(cè)試時(shí)長和時(shí)間間隔，完善所有參數(shù)設(shè)置。

　　◆開始測(cè)試界面

　　待所有配置參數(shù)完成設(shè)置后，點(diǎn)擊開始測(cè)試，系統(tǒng)會(huì)呈現(xiàn)出電阻和電抗關(guān)系的波形圖。

　　更多功能介紹及LCR測(cè)試軟件下載：搜索【納米軟件】