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太赫茲時(shí)域光譜儀THz-TDS能夠定量檢測(cè)出材料內(nèi)的缺陷
太赫茲時(shí)域光譜儀THz-TDS在光譜學(xué)、材料表征、安檢、通信等眾多領(lǐng)域應(yīng)用前景廣闊。全光纖耦合、工作在1560 nm 波段的激光器能夠相對(duì)來(lái)說(shuō)高效地產(chǎn)生寬帶的太赫茲信號(hào)。為了把緊湊的超快飛秒光纖激光器可靠地集成到復(fù)雜系統(tǒng)中，它必須滿足在惡劣工作環(huán)境中仍能保持優(yōu)良的穩(wěn)定性、復(fù)現(xiàn)性以及魯棒性。
太赫茲無(wú)損檢測(cè)技術(shù)關(guān)乎汽車、飛機(jī)、輪船、發(fā)電站、航空航天等重要的硬核領(lǐng)域，在這些領(lǐng)域中，發(fā)動(dòng)機(jī)渦輪、燃燒室、尾噴管、燃汽輪機(jī)渦輪等核心部件的組成一般是高溫合金為主要骨架，外部則需要涂敷陶瓷基復(fù)合材料等耐高溫材料作為熱屏蔽層。
太赫茲波對(duì)CMC有較強(qiáng)的穿透性，因此太赫茲時(shí)域光譜儀THz-TDS結(jié)合成像技術(shù)提供了一種解決方案，不僅能夠高精度測(cè)量涂層的厚度，并且能夠定量檢測(cè)出材料內(nèi)的缺陷。THz-TDS可用于對(duì)樣品進(jìn)行透射或反射檢測(cè)，在對(duì)吸收變化不敏感的透射測(cè)量中，反射模式為基底材料提供了更多的選擇。
與光譜學(xué)相似的是，THz-TDS對(duì)待測(cè)材料的折射率很敏感，界面的反射率決定了反射太赫茲信號(hào)的振幅和相位，這使得它成為一種適用于層狀結(jié)構(gòu)的無(wú)損檢測(cè) (NDT) 技術(shù)。利用脈沖太赫茲波進(jìn)行飛行時(shí)間 測(cè)量，可以在透射和反射模式下高精度地獲得各層厚度。與現(xiàn)有的其它技術(shù)相比，不僅可以通過(guò)太赫茲測(cè)試技術(shù)來(lái)確定涂層的總厚度，而且可以區(qū)分不同層之間的厚度差，最高可以達(dá)到微米量級(jí)的分辨率。
產(chǎn)品特性：
1、光譜范圍最高可至4THz；
2、帶透射測(cè)試樣品倉(cāng)，可充氮?dú)猓?br />
3、針對(duì)小樣品可選聚焦太赫茲光束；
4、有額外端口，適用于外部光纖耦合測(cè)試；
5、可選x-y-z樣品位移臺(tái)，用于3D掃描透反射測(cè)試；
6、T3DS軟件支持。
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