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技術(shù)資料:環(huán)境試驗設(shè)備的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、判定和其他簡單介紹

來源:蘇州市鑫達(dá)試驗設(shè)備有限公司   2011年08月29日 15:27  
  一、環(huán)境試驗設(shè)備概況
  
  環(huán)境試驗設(shè)備設(shè)計、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗方法,隨著生產(chǎn)力的進(jìn)步、國民經(jīng)濟的發(fā)展,環(huán)境試驗方法的日臻豐富,相應(yīng)的環(huán)境試驗設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗?zāi)芸煽俊⒊掷m(xù)地得到實施,這就需要有*,性能合格的試驗設(shè)備,而要達(dá)到這一要求,就需有一個統(tǒng)一衡量試驗設(shè)備尺度即環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn),以及環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)。
  
  我國的環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)(以下簡稱“設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)”)及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)(以下簡稱“方法標(biāo)準(zhǔn)”)起草、發(fā)布、實施于二十世紀(jì)八十年代中期。貴公司所要的標(biāo)準(zhǔn)都可以去“國標(biāo)網(wǎng)”上去查一查,那上面有你全部你所需要的資料.我這里就把我們平常的一些參數(shù)供貴公司參考.
  
  二、環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)
  
  1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)共有九項:
  
  GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件
  
  GB10587-89鹽霧試驗箱技術(shù)條件
  
  GB10588-89長霉試驗箱技術(shù)條件
  
  GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件
  
  GB10590-89低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件
  
  GB10591-89高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件
  
  GB10592-89高、低溫試驗箱技術(shù)條件
  
  GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件
  
  GB11159-89低氣壓試驗箱技術(shù)條件
  
  2、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)中的共性問題
  
  1)適用范圍
  
  在上述的九項標(biāo)準(zhǔn)中都明確規(guī)定了本標(biāo)準(zhǔn)適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗設(shè)備的所有廠家,對該標(biāo)準(zhǔn)所對應(yīng)的產(chǎn)品在作出廠檢驗、型式檢驗、質(zhì)量監(jiān)督檢驗時作為依據(jù)。
  
  2)適應(yīng)性
  
  按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的產(chǎn)品,其性能要符合相對應(yīng)的環(huán)境試驗方法標(biāo)準(zhǔn)中對試驗設(shè)備的要求,按其檢驗要求檢測合格的產(chǎn)品方可出廠。
  
  3)操作性
  
  設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)在貫徹實施過程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時,該類標(biāo)準(zhǔn)在設(shè)備制造廠也應(yīng)用較多。
  
  4)修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的不足之處
  
  九項設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)起草于上世紀(jì)八十年代,隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和需求,修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是必須的。
  
  3、貫徹執(zhí)行過程中的注意事項
  
  1)對基本環(huán)境條件的要求,綜合在一起主要有下列幾項
  
  A)溫度:15℃~35℃
  
  B)相對濕度:不大于85%RH
  
  C)大氣壓強:86Kpa~106Kpa
  
  D)熱輻射:無陽光起直射,無熱源直接輻射
  
  E)氣流:無強烈氣流,需要時不可直接吹到箱體上
  
  F)電磁場:無強烈電磁場
  
  G)三廢:無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
  
  H)冷卻水源:水溫不大于30℃,水壓控制在0.1~0.3Mpa
  
  I)加濕水源:電阻率不低于500Ωm
  
  J)電源:220±22V、380±38V、50±0.5Hz
  
  2)負(fù)載要求:
  
  A)負(fù)載品種:一般可用電工、電子產(chǎn)品或其它產(chǎn)品、零部件及絕緣材料等(鹽霧試驗除外)
  
  B)負(fù)載條件:
  
  -------負(fù)載總質(zhì)量:50~80Kg/m3
  
  -------負(fù)載總體積:不大于工作室容積的1/5
  
  -------阻擋主風(fēng)道總面積:不大于主風(fēng)道所處工作室截面積的1/3
  
  -------鹽霧試驗設(shè)備:規(guī)格:50*100*(1~2)mm
  
  -------種類:金屬
  
  -------樣品數(shù):160塊/m2(工作室水平面面積計)
  
  三、環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)(氣候試驗設(shè)備)
  
  1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)共有六項:
  
  GB/T5170.2----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備
  
  GB/T5170.5----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備
  
  GB/T5170.8----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備
  
  GB/T5170.9----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備
  
  GB/T5170.10---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備
  
  GB/T5170.11---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備
  
  2、方法標(biāo)準(zhǔn)的幾個共同問題
  
  1)標(biāo)準(zhǔn)適用范圍:在六項方法標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了該類標(biāo)準(zhǔn)是環(huán)境試驗設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時檢定項目的確定,檢測儀器的選用,以及檢定條件、測試點數(shù)量、布點位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。
  
  2)適應(yīng)性:按方法標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的設(shè)備,可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進(jìn)行相關(guān)的環(huán)境試驗。
  
  3)操作性:本類標(biāo)準(zhǔn)在環(huán)境試驗設(shè)備使用單位應(yīng)用居多,試驗設(shè)備生產(chǎn)廠應(yīng)用為少。
  
  3、貫徹執(zhí)行過程中的幾個注意點:
  
  1)各分標(biāo)準(zhǔn)使用時應(yīng)與總則一起使用。
  
  2)對于復(fù)合試驗設(shè)備的周期檢定要若干分標(biāo)準(zhǔn)及總則一起使用
  
  3)檢定條件:由總則規(guī)定,其內(nèi)容與設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)相一致。
  
  4)負(fù)載要求:由總則規(guī)定,其內(nèi)容按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中規(guī)定保持一致。
  
  對照內(nèi)容設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)方法標(biāo)準(zhǔn)
  
  適用范圍產(chǎn)品的出廠檢驗及型式檢驗與質(zhì)量監(jiān)督檢驗試驗設(shè)備的周期檢定
  
  環(huán)境條件
  
  具有一致性
  
  負(fù)載條件有三項要求(鹽霧試驗箱例外)按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中的規(guī)定
  
  檢驗項目對生產(chǎn)好的產(chǎn)品進(jìn)行綜合性能檢驗(包括標(biāo)志、包裝、儲存)按試驗方法要求對試驗設(shè)備進(jìn)行檢驗
  
  受檢對象生產(chǎn)線上裝配、調(diào)試完成后的產(chǎn)品外形、結(jié)構(gòu)、標(biāo)志完好控制系統(tǒng)無明顯缺陷、控制精度符合要求安全裝置功能正常
  
  檢驗類型型式檢驗、出廠檢驗、仲裁檢驗周期檢驗
  
  檢驗結(jié)果分類合格、不合格、批合格、批不合格合格、準(zhǔn)用、停用
  
  結(jié)果處理合格出廠、不合格不準(zhǔn)出廠批不合格、逐臺檢驗質(zhì)量監(jiān)督檢驗,合格續(xù)產(chǎn)不合格停產(chǎn)整頓合格—發(fā)合格證(或部分合格限使用范圍)
  
  準(zhǔn)用—發(fā)準(zhǔn)用證
  
  停用—發(fā)停用證
  
  五、設(shè)備極其參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)與試驗方法標(biāo)準(zhǔn)的對應(yīng)選擇
  
  1、根據(jù)受試產(chǎn)品規(guī)定的試驗方法確定環(huán)境試驗設(shè)備的種類,現(xiàn)行設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是一種產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)對應(yīng)一類設(shè)備,可作多種試驗的復(fù)合試驗箱需執(zhí)行多個設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)。
  
  2、根據(jù)試驗方法要求,對設(shè)備進(jìn)行周期檢定時,可選用一個或多個檢定方法標(biāo)準(zhǔn)對試驗設(shè)備進(jìn)行檢定。
  
  3、幾種常用的不同試驗方法所需設(shè)備的檢定方法標(biāo)準(zhǔn)
  
  試驗方法標(biāo)準(zhǔn)
  
  檢定方法標(biāo)準(zhǔn)
  
  代號名稱代號名稱
  
  GB2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗方法試驗A:低溫GB5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備
  
  GB2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗方法試驗B:高溫
  
  GB2423.22電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N:溫度變化試驗方法
  
  GB2423.3電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Ca:恒定濕熱GB5170.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備
  
  GB2423.4電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Db:交變濕熱
  
  GB2423.9電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Cb:設(shè)備用恒定濕熱
  
  GB2423.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗J:長霉
  
  GB2423.17電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Ka:鹽霧GB5170.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備
  
  GB2423.18電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Kb:交變鹽霧
  
  GB2423.19電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗GB5170.11電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
  
  腐蝕氣體試驗設(shè)備
  
  GB2423.20電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法Kd:接觸點和連接件硫件氫試驗方法
  
  六、進(jìn)行環(huán)境試驗過程中的幾個注意點
  
  1、合理選擇設(shè)備溫濕度范圍及控制精度
  
  2、注意受試品的體積、重量及擋風(fēng)橫截對設(shè)備主性能的影響
  
  3、設(shè)備安置場所環(huán)境條件
  
  4、適當(dāng)選擇試驗的嚴(yán)酷度
  
  七、結(jié)束語
  
  通過對環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)的初步分析,兩類標(biāo)準(zhǔn)各自有其獨立性,但相互之間又具有一定的關(guān)聯(lián)性。因此,準(zhǔn)確理解兩類標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍,熟悉兩類標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)內(nèi)容的根本差異,是我們準(zhǔn)確貫徹、切實執(zhí)行兩類標(biāo)準(zhǔn)的前提。愿我們在今后的事業(yè)中為貫徹執(zhí)行好這兩類標(biāo)準(zhǔn)而共同努力。

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