一、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備概況
　　
　　環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗(yàn)方法，隨著生產(chǎn)力的進(jìn)步、國民經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，環(huán)境試驗(yàn)方法的日臻豐富，相應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芸煽?、持續(xù)地得到實(shí)施，這就需要有*，性能合格的試驗(yàn)設(shè)備，而要達(dá)到這一要求，就需有一個統(tǒng)一衡量試驗(yàn)設(shè)備尺度即環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)，以及環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)。
　　
　　我國的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)（以下簡稱“設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)”）及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)（以下簡稱“方法標(biāo)準(zhǔn)”）起草、發(fā)布、實(shí)施于二十世紀(jì)八十年代中期。貴公司所要的標(biāo)準(zhǔn)都可以去“國標(biāo)網(wǎng)”上去查一查,那上面有你全部你所需要的資料.我這里就把我們平常的一些參數(shù)供貴公司參考.
　　
　　二、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)
　　
　　1、現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)共有九項(xiàng)：
　　
　　GB10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　
　　GB10587-89鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　
　　GB10588-89長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　
　　GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　
　　GB10590-89低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　
　　GB10591-89高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　
　　GB10592-89高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　
　　GB11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　
　　GB11159-89低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　
　　2、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)中的共性問題
　　
　　1）適用范圍
　　
　　在上述的九項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)中都明確規(guī)定了本標(biāo)準(zhǔn)適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的所有廠家，對該標(biāo)準(zhǔn)所對應(yīng)的產(chǎn)品在作出廠檢驗(yàn)、型式檢驗(yàn)、質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)時作為依據(jù)。
　　
　　2）適應(yīng)性
　　
　　按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的產(chǎn)品，其性能要符合相對應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)中對試驗(yàn)設(shè)備的要求，按其檢驗(yàn)要求檢測合格的產(chǎn)品方可出廠。
　　
　　3）操作性
　　
　　設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)在貫徹實(shí)施過程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時，該類標(biāo)準(zhǔn)在設(shè)備制造廠也應(yīng)用較多。
　　
　　4）修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的不足之處
　　
　　九項(xiàng)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)起草于上世紀(jì)八十年代，隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和需求，修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是必須的。
　　
　　3、貫徹執(zhí)行過程中的注意事項(xiàng)
　　
　　1）對基本環(huán)境條件的要求，綜合在一起主要有下列幾項(xiàng)
　　
　　A）溫度：15℃~35℃
　　
　　B）相對濕度：不大于85%RH
　　
　　C）大氣壓強(qiáng)：86Kpa~106Kpa
　　
　　D）熱輻射：無陽光起直射，無熱源直接輻射
　　
　　E）氣流：無強(qiáng)烈氣流，需要時不可直接吹到箱體上
　　
　　F）電磁場：無強(qiáng)烈電磁場
　　
　　G）三廢：無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
　　
　　H）冷卻水源：水溫不大于30℃，水壓控制在0.1~0.3Mpa
　　
　　I）加濕水源：電阻率不低于500Ωm
　　
　　J）電源：220±22V、380±38V、50±0.5Hz
　　
　　2）負(fù)載要求：
　　
　　A）負(fù)載品種：一般可用電工、電子產(chǎn)品或其它產(chǎn)品、零部件及絕緣材料等（鹽霧試驗(yàn)除外）
　　
　　B）負(fù)載條件：
　　
　　-------負(fù)載總質(zhì)量：50~80Kg/m3
　　
　　-------負(fù)載總體積：不大于工作室容積的1/5
　　
　　-------阻擋主風(fēng)道總面積：不大于主風(fēng)道所處工作室截面積的1/3
　　
　　-------鹽霧試驗(yàn)設(shè)備：規(guī)格：50＊100＊（1~2）mm
　　
　　-------種類：金屬
　　
　　-------樣品數(shù)：160塊/m2（工作室水平面面積計）
　　
　　三、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)（氣候試驗(yàn)設(shè)備）
　　
　　1、現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)共有六項(xiàng)：
　　
　　GB/T5170.2----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
　　
　　GB/T5170.5----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
　　
　　GB/T5170.8----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
　　
　　GB/T5170.9----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備
　　
　　GB/T5170.10---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
　　
　　GB/T5170.11---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
　　
　　2、方法標(biāo)準(zhǔn)的幾個共同問題
　　
　　1）標(biāo)準(zhǔn)適用范圍：在六項(xiàng)方法標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了該類標(biāo)準(zhǔn)是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時檢定項(xiàng)目的確定，檢測儀器的選用，以及檢定條件、測試點(diǎn)數(shù)量、布點(diǎn)位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。
　　
　　2）適應(yīng)性：按方法標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的設(shè)備，可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進(jìn)行相關(guān)的環(huán)境試驗(yàn)。
　　
　　3）操作性：本類標(biāo)準(zhǔn)在環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備使用單位應(yīng)用居多，試驗(yàn)設(shè)備生產(chǎn)廠應(yīng)用為少。
　　
　　3、貫徹執(zhí)行過程中的幾個注意點(diǎn)：
　　
　　1）各分標(biāo)準(zhǔn)使用時應(yīng)與總則一起使用。
　　
　　2）對于復(fù)合試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定要若干分標(biāo)準(zhǔn)及總則一起使用
　　
　　3）檢定條件：由總則規(guī)定，其內(nèi)容與設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)相一致。
　　
　　4）負(fù)載要求：由總則規(guī)定，其內(nèi)容按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中規(guī)定保持一致。
　　
　　對照內(nèi)容設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)方法標(biāo)準(zhǔn)
　　
　　適用范圍產(chǎn)品的出廠檢驗(yàn)及型式檢驗(yàn)與質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定
　　
　　環(huán)境條件
　　
　　具有一致性
　　
　　負(fù)載條件有三項(xiàng)要求（鹽霧試驗(yàn)箱例外）按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中的規(guī)定
　　
　　檢驗(yàn)項(xiàng)目對生產(chǎn)好的產(chǎn)品進(jìn)行綜合性能檢驗(yàn)（包括標(biāo)志、包裝、儲存）按試驗(yàn)方法要求對試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行檢驗(yàn)
　　
　　受檢對象生產(chǎn)線上裝配、調(diào)試完成后的產(chǎn)品外形、結(jié)構(gòu)、標(biāo)志完好控制系統(tǒng)無明顯缺陷、控制精度符合要求安全裝置功能正常
　　
　　檢驗(yàn)類型型式檢驗(yàn)、出廠檢驗(yàn)、仲裁檢驗(yàn)周期檢驗(yàn)
　　
　　檢驗(yàn)結(jié)果分類合格、不合格、批合格、批不合格合格、準(zhǔn)用、停用
　　
　　結(jié)果處理合格出廠、不合格不準(zhǔn)出廠批不合格、逐臺檢驗(yàn)質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)，合格續(xù)產(chǎn)不合格停產(chǎn)整頓合格—發(fā)合格證（或部分合格限使用范圍）
　　
　　準(zhǔn)用—發(fā)準(zhǔn)用證
　　
　　停用—發(fā)停用證
　　
　　五、設(shè)備極其參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)與試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)的對應(yīng)選擇
　　
　　1、根據(jù)受試產(chǎn)品規(guī)定的試驗(yàn)方法確定環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的種類，現(xiàn)行設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是一種產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)對應(yīng)一類設(shè)備，可作多種試驗(yàn)的復(fù)合試驗(yàn)箱需執(zhí)行多個設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)。
　　
　　2、根據(jù)試驗(yàn)方法要求，對設(shè)備進(jìn)行周期檢定時，可選用一個或多個檢定方法標(biāo)準(zhǔn)對試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行檢定。
　　
　　3、幾種常用的不同試驗(yàn)方法所需設(shè)備的檢定方法標(biāo)準(zhǔn)
　　
　　試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)
　　
　　檢定方法標(biāo)準(zhǔn)
　　
　　代號名稱代號名稱
　　
　　GB2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫GB5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
　　
　　GB2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
　　
　　GB2423.22電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法
　　
　　GB2423.3電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ca：恒定濕熱GB5170.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
　　
　　GB2423.4電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱
　　
　　GB2423.9電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱
　　
　　GB2423.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)J：長霉
　　
　　GB2423.17電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka：鹽霧GB5170.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
　　
　　GB2423.18電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kb：交變鹽霧
　　
　　GB2423.19電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)GB5170.11電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
　　
　　腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
　　
　　GB2423.20電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法Kd：接觸點(diǎn)和連接件硫件氫試驗(yàn)方法
　　
　　六、進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)過程中的幾個注意點(diǎn)
　　
　　1、合理選擇設(shè)備溫濕度范圍及控制精度
　　
　　2、注意受試品的體積、重量及擋風(fēng)橫截對設(shè)備主性能的影響
　　
　　3、設(shè)備安置場所環(huán)境條件
　　
　　4、適當(dāng)選擇試驗(yàn)的嚴(yán)酷度
　　
　　七、結(jié)束語
　　
　　通過對環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)的初步分析，兩類標(biāo)準(zhǔn)各自有其獨(dú)立性，但相互之間又具有一定的關(guān)聯(lián)性。因此，準(zhǔn)確理解兩類標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍，熟悉兩類標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)內(nèi)容的根本差異，是我們準(zhǔn)確貫徹、切實(shí)執(zhí)行兩類標(biāo)準(zhǔn)的前提。愿我們在今后的事業(yè)中為貫徹執(zhí)行好這兩類標(biāo)準(zhǔn)而共同努力。