武漢東隆科技有限公司自研的高分辨率光學(xué)鏈路診斷儀（OCI）是基于光頻域反射技術(shù)（OFDR），單次測量可實(shí)現(xiàn)從器件到鏈路的全范圍診斷，并且能輕松測試出光纖鏈路損耗情況。

據(jù)了解，光頻域反射技術(shù)（OFDR）測試插損方式是依據(jù)事件點(diǎn)兩側(cè)瑞利散射信號幅值差異，其高分辨率特性可以定位到厘米級損耗點(diǎn)。通常高分辨率光學(xué)鏈路診斷儀（OCI）插損測量動態(tài)范圍為18dB，反射式測量方式動態(tài)范圍為9dB。當(dāng)待測鏈路中累積損耗超出9dB時(shí)，超出部分瑞利散射信號會被設(shè)備底噪淹沒，給測試帶來誤差。針對上訴情況，本文借助光纖環(huán)形器測試出大插損光鏈路單向累積損耗。

圖1.借助環(huán)形器測試大插損裝置示意圖

OCI測試整個光鏈路結(jié)果如圖2，距離-回?fù)p曲線在2.95719m位置出現(xiàn)最大回?fù)p峰值，對應(yīng)整個光傳輸鏈路。由于OCI儀器默認(rèn)顯示為反射式測量，而本鏈路中借助環(huán)形器是透射式測量，所以實(shí)際鏈路長度為顯示距離的兩倍5.91438m。同時(shí)，該位置積分回?fù)p為-25.69dB，是環(huán)形器和可調(diào)光衰減器單向累積損耗總和。

圖2.OCI測試環(huán)形器連接可調(diào)光衰減器結(jié)果圖

第二，使用OCI單獨(dú)測試光纖環(huán)形器，損耗測試裝置如圖3。

圖3.環(huán)形器損耗測試裝置示意圖

圖4.OCI測試環(huán)形器結(jié)果圖

測試結(jié)果如圖4，從圖中可以看出距離-回?fù)p曲線在1.86088m位置出現(xiàn)最大回?fù)p峰值（實(shí)際光纖環(huán)形器光鏈路長度為3.72176m），回?fù)p為-2.55dB，是環(huán)形器單向累積損耗總和?？烧{(diào)光衰減器插損為23.14dB (=25.69dB -2.55dB)。

圖5.功率計(jì)測試可調(diào)光衰減器損耗裝置示意圖

改變可調(diào)光衰減器插損，按照上訴方法分別用OCI和功率計(jì)測試可調(diào)光衰減器插損值，下表為10次測量可調(diào)光衰減器插損值對比表。