良好的開關(guān)電源必須符合所有功能規(guī)格、保護特性、安全規(guī)范（如UL、CSA、VDE、DEMKO、SEMKO，長城等等之耐壓、抗燃、漏電流、接地等安全規(guī)格）、電磁兼容能力（如FCC、CE等之傳導(dǎo)與幅射干擾）、可靠性（如老化壽命測試）、及其他之特定需求等。本篇文章納米軟件小編Namisoft將為大家詳細分享關(guān)于開關(guān)電源分類及開關(guān)電源測試解決方案。

一、開關(guān)電源包括下列之型式：

·AC-DC：如個人用、家用、辦公室用、工業(yè)用(電腦、周邊、充電器)

·DC-DC：如可攜帶式產(chǎn)品(手機、筆計本電腦、攝影機，通信交換機二次電源)

·DC-AC：如車用轉(zhuǎn)換器(12V～115/230V) 、通信交換機振鈴信號電源

·AC-AC：如交流電源變壓器、變頻器、UPS不間斷電源

開關(guān)電源的設(shè)計、制造及品質(zhì)管理等測試需要精密的電子儀器設(shè)備來模擬電源供應(yīng)器實際工作時之各項特性(亦即為各項規(guī)格)，并驗證能否通過。開關(guān)電源有許多不同的組成結(jié)構(gòu)(單輸出、多輸出、及正負極性等)和輸出電壓、電流、功率之組合，因此需要具彈性多樣化的測試儀器才能符合眾多不同規(guī)格之需求。

二、電氣性能(Electrical Specifications)測試

當(dāng)驗證電源供應(yīng)器的品質(zhì)時，下列為一般的功能性測試項目，詳細說明如下：

*功能(Functions)測試：

·輸出電壓調(diào)整(Hold-on Voltage Adjust)

·電源調(diào)整率(Line Regulation)

·負載調(diào)整率(Load Regulation)

·綜合調(diào)整率(Conmine Regulation)

·輸出漣波及雜訊(Output Ripple & Noise, RARD)

·輸入功率及效率(Input Power, Efficiency)

·動態(tài)負載或暫態(tài)負載(Dynamic or Transient Response)

·電源良好/失效(Power Good/Fail)時間

·起動(Set-Up)及保持(Hold-Up)時間

*保護動作(Protections)測試：

·過電壓保護(OVP, Over Voltage Protection)

·短路保護(Short)

·過電流保護(OCP, Over Current Protection)

·過功率保護(OPP, Over Power Protection)

*安全(Safety)規(guī)格測試：

·輸入電流、漏電電流等

·耐壓絕緣: 電源輸入對地，電源輸出對地；電路板線路須有安全間距。

·溫度抗燃：零組件需具備抗燃之安全規(guī)格，工作溫度須於安全規(guī)格內(nèi)。

·機殼接地：需於0.1歐姆以下，以避免漏電觸電之危險。

·變壓輸出特性：開路、短路及最大伏安(VA)輸出

·異常測試：散熱風(fēng)扇停轉(zhuǎn)、電壓選擇開關(guān)設(shè)定錯誤

*電磁兼容(Electromagnetic Compliance)測試：

電源供應(yīng)器需符合CISPR 22、CLASS B之傳導(dǎo)與幅射的4dB馀裕度，電源供應(yīng)器需在以下三種負載狀況下測試：

每個輸出為空載、每個輸出為50%負載、每個輸出為100%負載。

·傳導(dǎo)干擾/免疫：經(jīng)由電源線之傳導(dǎo)性干擾/免疫

·幅射干擾/免疫：經(jīng)由磁場之幅射性干擾/免疫

*可靠性(Reliability)測試：

老化壽命測試：高溫(約50-60度)及長時間(約8-24小時)滿載測試。

*其他測試：

·ESD：Electrostatic Discharge靜電放電(人或物體經(jīng)由直接接觸或間隔放電引起)在2-15KV之ESD脈波下，

待測物之每個表面區(qū)域應(yīng)執(zhí)行連續(xù)20次的靜電放電測試，電源供應(yīng)器之輸出需繼續(xù)工作而不會產(chǎn)生突波(Glitch)

或中斷(Interrupt)，直接ESD接觸時不應(yīng)造成過激(Overshoot)或欠激(Undershoot)之超過穩(wěn)壓范圍的狀況、及過電壓保護(OVP)、過電流保護(OCP)等。另外，於ESD放電電壓在高達25KV下，應(yīng)不致造成元件故障(Failure)。

·EFT：Electrical Fast Transient or burst一串切換雜訊經(jīng)由電源線或I/O線路之傳導(dǎo)性干擾(由供電或建筑物內(nèi)引起)。

·Surge：經(jīng)由電源線之高能量暫態(tài)雜訊干擾(電燈之閃動引起)。

·VD/I：Dips and Interrupts電源電壓下降或中斷(電力分配系統(tǒng)之故障或失誤所引起，例如供電過載或空氣開關(guān)跳動所引起)

·Inrush: 開機輸入沖擊電流，開關(guān)電源對供電系統(tǒng)的影響。

開關(guān)電源自動測試系統(tǒng)詳細方案介紹：