良好的開(kāi)關(guān)電源必須符合所有功能規(guī)格、保護(hù)特性、安全規(guī)范（如UL、CSA、VDE、DEMKO、SEMKO，長(zhǎng)城等等之耐壓、抗燃、漏電流、接地等安全規(guī)格）、電磁兼容能力（如FCC、CE等之傳導(dǎo)與幅射干擾）、可靠性（如老化壽命測(cè)試）、及其他之特定需求等。本篇文章納米軟件小編Namisoft將為大家詳細(xì)分享關(guān)于開(kāi)關(guān)電源分類及開(kāi)關(guān)電源測(cè)試解決方案。

一、開(kāi)關(guān)電源包括下列之型式：

·AC-DC：如個(gè)人用、家用、辦公室用、工業(yè)用(電腦、周邊、充電器)

·DC-DC：如可攜帶式產(chǎn)品(手機(jī)、筆計(jì)本電腦、攝影機(jī)，通信交換機(jī)二次電源)

·DC-AC：如車用轉(zhuǎn)換器(12V～115/230V) 、通信交換機(jī)振鈴信號(hào)電源

·AC-AC：如交流電源變壓器、變頻器、UPS不間斷電源

開(kāi)關(guān)電源的設(shè)計(jì)、制造及品質(zhì)管理等測(cè)試需要精密的電子儀器設(shè)備來(lái)模擬電源供應(yīng)器實(shí)際工作時(shí)之各項(xiàng)特性(亦即為各項(xiàng)規(guī)格)，并驗(yàn)證能否通過(guò)。開(kāi)關(guān)電源有許多不同的組成結(jié)構(gòu)(單輸出、多輸出、及正負(fù)極性等)和輸出電壓、電流、功率之組合，因此需要具彈性多樣化的測(cè)試儀器才能符合眾多不同規(guī)格之需求。

二、電氣性能(Electrical Specifications)測(cè)試

當(dāng)驗(yàn)證電源供應(yīng)器的品質(zhì)時(shí)，下列為一般的功能性測(cè)試項(xiàng)目，詳細(xì)說(shuō)明如下：

*功能(Functions)測(cè)試：

·輸出電壓調(diào)整(Hold-on Voltage Adjust)

·電源調(diào)整率(Line Regulation)

·負(fù)載調(diào)整率(Load Regulation)

·綜合調(diào)整率(Conmine Regulation)

·輸出漣波及雜訊(Output Ripple & Noise, RARD)

·輸入功率及效率(Input Power, Efficiency)

·動(dòng)態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載(Dynamic or Transient Response)

·電源良好/失效(Power Good/Fail)時(shí)間

·起動(dòng)(Set-Up)及保持(Hold-Up)時(shí)間

*保護(hù)動(dòng)作(Protections)測(cè)試：

·過(guò)電壓保護(hù)(OVP, Over Voltage Protection)

·短路保護(hù)(Short)

·過(guò)電流保護(hù)(OCP, Over Current Protection)

·過(guò)功率保護(hù)(OPP, Over Power Protection)

*安全(Safety)規(guī)格測(cè)試：

·輸入電流、漏電電流等

·耐壓絕緣: 電源輸入對(duì)地，電源輸出對(duì)地；電路板線路須有安全間距。

·溫度抗燃：零組件需具備抗燃之安全規(guī)格，工作溫度須於安全規(guī)格內(nèi)。

·機(jī)殼接地：需於0.1歐姆以下，以避免漏電觸電之危險(xiǎn)。

·變壓輸出特性：開(kāi)路、短路及最大伏安(VA)輸出

·異常測(cè)試：散熱風(fēng)扇停轉(zhuǎn)、電壓選擇開(kāi)關(guān)設(shè)定錯(cuò)誤

*電磁兼容(Electromagnetic Compliance)測(cè)試：

電源供應(yīng)器需符合CISPR 22、CLASS B之傳導(dǎo)與幅射的4dB馀裕度，電源供應(yīng)器需在以下三種負(fù)載狀況下測(cè)試：

每個(gè)輸出為空載、每個(gè)輸出為50%負(fù)載、每個(gè)輸出為100%負(fù)載。

·傳導(dǎo)干擾/免疫：經(jīng)由電源線之傳導(dǎo)性干擾/免疫

·幅射干擾/免疫：經(jīng)由磁場(chǎng)之幅射性干擾/免疫

*可靠性(Reliability)測(cè)試：

老化壽命測(cè)試：高溫(約50-60度)及長(zhǎng)時(shí)間(約8-24小時(shí))滿載測(cè)試。

*其他測(cè)試：

·ESD：Electrostatic Discharge靜電放電(人或物體經(jīng)由直接接觸或間隔放電引起)在2-15KV之ESD脈波下，

待測(cè)物之每個(gè)表面區(qū)域應(yīng)執(zhí)行連續(xù)20次的靜電放電測(cè)試，電源供應(yīng)器之輸出需繼續(xù)工作而不會(huì)產(chǎn)生突波(Glitch)

或中斷(Interrupt)，直接ESD接觸時(shí)不應(yīng)造成過(guò)激(Overshoot)或欠激(Undershoot)之超過(guò)穩(wěn)壓范圍的狀況、及過(guò)電壓保護(hù)(OVP)、過(guò)電流保護(hù)(OCP)等。另外，於ESD放電電壓在高達(dá)25KV下，應(yīng)不致造成元件故障(Failure)。

·EFT：Electrical Fast Transient or burst一串切換雜訊經(jīng)由電源線或I/O線路之傳導(dǎo)性干擾(由供電或建筑物內(nèi)引起)。

·Surge：經(jīng)由電源線之高能量暫態(tài)雜訊干擾(電燈之閃動(dòng)引起)。

·VD/I：Dips and Interrupts電源電壓下降或中斷(電力分配系統(tǒng)之故障或失誤所引起，例如供電過(guò)載或空氣開(kāi)關(guān)跳動(dòng)所引起)

·Inrush: 開(kāi)機(jī)輸入沖擊電流，開(kāi)關(guān)電源對(duì)供電系統(tǒng)的影響。

開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)詳細(xì)方案介紹：