激光共聚焦顯微鏡高度測量原理

來源：南京智聯(lián)光學科技有限公司 2023年10月18日 15:19

激光共聚焦顯微鏡（LaserScanningConfocalMicroscope，簡稱LSCM）是一種高分辨率的顯微鏡技術(shù)，可以實現(xiàn)對樣品表面的三維形貌進行測量。其高度測量原理主要基于激光共聚焦原理和掃描探測技術(shù)。

激光共聚焦原理是指通過將激光束聚焦到樣品表面上的一個點，然后通過探測器接收反射回來的光信號。在聚焦點附近，只有來自該點的光信號能夠通過一個小孔進入探測器，其他位置的光信號會被屏蔽掉。這樣可以消除樣品表面其他位置的散射光信號，提高圖像的清晰度和對比度。

在高度測量中，激光束被聚焦到樣品表面上的一個點，然后通過探測器接收反射回來的光信號。當樣品表面存在高度差時，反射回來的光信號會發(fā)生相位差，這個相位差可以用來計算樣品表面的高度差。

為了實現(xiàn)高度測量，LSCM通常采用掃描探測技術(shù)。通過控制激光束在樣品表面上進行掃描，可以獲取到不同位置的光信號。通過對這些光信號進行處理和分析，可以得到樣品表面的三維形貌信息。

總結(jié)起來，激光共聚焦顯微鏡的高度測量原理是通過激光共聚焦原理和掃描探測技術(shù)，利用反射回來的光信號的相位差來計算樣品表面的高度差。這種原理可以實現(xiàn)對樣品表面的高分辨率三維形貌測量。

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