塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀實(shí)驗(yàn)精度圖像細(xì)膩
用具有5000像元的線陣CCD器件,每像元僅7微米,空間分辨率遠(yuǎn)高于面陣CCD,12位A/D量化,圖像細(xì)膩,分裂環(huán)的光強(qiáng)分布曲線與理論課內(nèi)容吻合,并顯示出更多的細(xì)節(jié),無需人工干預(yù)修正,定圓心等額外處理,實(shí)驗(yàn)精度≤2%,優(yōu)于面陣CCD方案。
JCP7光電池光電器件綜合實(shí)驗(yàn)儀
光電池光電器件綜合實(shí)驗(yàn)儀是04綜合光學(xué)實(shí)驗(yàn)儀的組成部分;也可以單獨(dú)做實(shí)驗(yàn)。
可以對光電池,光電阻和光電二極管這三種光電元件的特性進(jìn)行測量,使學(xué)生對伏安特性,光強(qiáng)變化以及功率與電阻的關(guān)系等物理現(xiàn)象加深了解。
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:
光電池的開路電壓測量,功率與電阻的關(guān)系,填充因子測量,光強(qiáng)變化與開路電壓之間的關(guān)系以及光電池在黑暗狀態(tài)下作二極管用的伏安特性測量。
光電阻的伏安特性測量,光強(qiáng)變化對光電阻的電壓影響。
光電二極管的伏安特性測量。
JCP8直讀型開放式光柵光譜實(shí)驗(yàn)儀
目視直讀,光路調(diào)節(jié)開放式,光源準(zhǔn)直透鏡、光譜成像透鏡、光柵架可調(diào),能鮮明地觀察到零級、一級和二級譜線分布狀況(600L/mm)。手動逐點(diǎn)測量,適于普物教學(xué)實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:
譜儀光學(xué)元件相互幾何關(guān)系調(diào)節(jié),加深對各個(gè)元件作用的理解;
觀察零級、一級、二級譜線分布狀況與光柵轉(zhuǎn)角的關(guān)系;
光譜定標(biāo)的原理和方法;
測量氫光譜,鈉光譜及其它光譜實(shí)驗(yàn)
波長范圍:300-900nm
焦 距:790 mm
光 柵:1200L/mm
接收方式:手動逐點(diǎn)測量
波長分辨率:優(yōu)于0.2nm(1200L/mm); 優(yōu)于0.4nm(600L/mm)
體 積:0.7m*0.3m*0.25m
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