掃描電鏡可以直接觀察納米材料的結(jié)構(gòu)、顆粒尺寸、分布、均勻度及團聚情況,結(jié)合能譜還能對納米材料的微區(qū)成分進行分析,確定納米材料的組成。利用掃描電鏡分析納米材料,可建立起納米材料種類、微觀形貌與宏觀性質(zhì)之間的聯(lián)系,對于改進合成條件,制備出具有優(yōu)異性能的納米材料有很重要的指導意義。
其次,對于高分子材料,掃描電鏡可直接觀察高分子材料(如均聚物、共聚物及共混物)的粒、塊、纖維、膜片及其制品的微觀形貌,粉體顆粒及纖維等增強材料在母體中的分散情況。另外,掃描電鏡還能觀察高分子材料在老化、疲勞、拉伸及扭轉(zhuǎn)等情形下斷口斷裂和擴散的情況,為分析斷裂的起因,斷裂方式及機理提供幫助。
總之,掃描電鏡在納米材料領(lǐng)域的應(yīng)用包括但不限于:1、可以直接觀察納米材料的表面形貌和結(jié)構(gòu),幫助研究者了解材料的微觀世界。
2、可以結(jié)合能譜技術(shù)對納米材料進行微區(qū)成分分析,進一步揭示材料的組成和性質(zhì)。
3、可以直接觀察高分子材料制品的微觀形貌,幫助研究者理解材料的形成過程和機理。
4、可以觀察高分子材料在老化、疲勞、拉伸及扭轉(zhuǎn)等情形下的斷口斷裂和擴散情況。
相關(guān)產(chǎn)品
免責聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責,不承擔此類作品侵權(quán)行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負版權(quán)等法律責任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。