接觸式薄膜測厚儀是一種用于測量薄膜厚度的儀器，其測量方式是直接接觸被測薄膜表面進(jìn)行測量。

接觸式薄膜測厚儀通常采用機(jī)械或電學(xué)原理進(jìn)行測量。在機(jī)械原理中，測厚儀通過測量探針與薄膜表面的接觸壓力或位移，來計算薄膜的厚度。而在電學(xué)原理中，測厚儀則是通過測量電導(dǎo)率或電阻值的變化，來推算薄膜的厚度。

接觸式薄膜測厚儀具有以下特點：

1. 精度高：由于直接接觸被測薄膜表面進(jìn)行測量，可以獲得較高的測量精度。

2. 對測試環(huán)境要求較低：對溫度、濕度等環(huán)境因素的要求不高，適用范圍較廣。

3. 可測量各種材料和狀態(tài)的薄膜：無論是金屬、塑料、玻璃纖維等材料，還是涂層、鍍層、復(fù)合層等狀態(tài)，都可以使用接觸式薄膜測厚儀進(jìn)行測量。

4. 操作簡便：儀器結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，易于攜帶和維護(hù)。

使用接觸式薄膜測厚儀時，需要注意以下幾點：

1. 在測量前需要對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。

2. 在測量過程中，要保持探針與薄膜表面的垂直度和平行度，以確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。

3. 對于一些特殊材料和狀態(tài)的薄膜，可能需要采用特殊的測量方法和參數(shù)設(shè)置。

4. 在使用過程中，需要注意儀器的保養(yǎng)和維護(hù)，以保證其使用壽命和精度。

總之，接觸式薄膜測厚儀是一種重要的薄膜厚度測量儀器，能夠準(zhǔn)確地測量各種材料和狀態(tài)的薄膜厚度，為產(chǎn)品的質(zhì)量控制和生產(chǎn)工藝的優(yōu)化提供保障。