接觸式薄膜測厚儀的測試原理是什么？

來源：濟南瓦蘭德儀器有限公司 2024年03月13日 15:47

薄膜厚度測量儀，又被稱為薄膜測厚儀、膜厚測試儀、薄膜厚度儀等，是一種用于測量薄膜、薄片、塑料片材、鋁箔、銅箔、電池隔膜、紙張、紙板等材料厚度的儀器設(shè)備。

機械接觸式薄膜測厚儀的測試原理，是通過位移傳感器測試薄膜材料的厚度。在測試前，儀器的測量頭落在設(shè)備砧板上，傳感器讀取測量頭的初始位移值，測量頭抬起后，將試樣放置在砧板紙上，測量頭以同樣的壓力落在試樣上，傳感器讀取測量頭的位移值，兩次位移值之差則為試樣的厚度值。

薄膜厚度測量儀薄膜測厚儀技術(shù)參數(shù)：

測試范圍（標(biāo)配）：0～2mm

分辨率：0.1μm

重復(fù)性：0.4μm

測量范圍（選配）：0～6、0～12mm

測量間距：0～1000mm（可設(shè)定）

進樣速度：1.5～80mm/s（可設(shè)定）

測量方式：機械接觸式

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