SRM 1976c標(biāo)準(zhǔn)品 是美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究院（NIST）發(fā)布的X射線粉末衍射（XRD）儀器校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品。這種標(biāo)準(zhǔn)品通常用于校準(zhǔn)X射線粉末衍射設(shè)備的線位置和強(qiáng)度，以確保設(shè)備在不同角度（如2θ角）下的測量準(zhǔn)確性。

具體來說，SRM 1976c標(biāo)準(zhǔn)品X射線粉末衍射 由一個(gè)燒結(jié)的氧化鋁圓盤組成，其直徑約為25.6毫米，厚度為2.2毫米。這種固體形式的SRM消除了由樣品加載過程引入的強(qiáng)度測量中的任何可變性，從而提高了校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性。

儲(chǔ)存：SRM 1976c標(biāo)準(zhǔn)品X射線粉末衍射 由一種燒結(jié)的氧化鋁基材組成，與1991年以來可供使用的NIST SRMS基本相同。雖然還沒有進(jìn)行長期穩(wěn)定性研究，但我們沒有證據(jù)表明在實(shí)驗(yàn)室條件下使用這種SRM的不同作用特性有任何退化的跡象，而且，已知的鋁是一種高度穩(wěn)定的氧化物。表面與其他結(jié)晶材料的污染可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)中的雜質(zhì)線。在X射線照射下可能會(huì)出現(xiàn)變色，這不影響認(rèn)證。

使用(安裝SRM1976e)：選擇SRM的光盤格式以適應(yīng)許多樣品的夾持幾何學(xué)。差示數(shù)據(jù)只能從標(biāo)簽對(duì)面的側(cè)面收集。在制造過程中，沖壓件的使用使閥瓣表面的邊緣相對(duì)于中心被壓下了大約10微米。雖然由于氧化鋁對(duì)X射線的衰減很低，這并不是一個(gè)很大的困難，但是安裝過程中的高度調(diào)整應(yīng)該是相對(duì)于光盤的中心(另見“使用SRM 1976 c測試儀器靈敏度”)。

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