在光學(xué)顯微鏡下，不能輕易看見(jiàn)的樣品主要包括以下幾類(lèi)：

不透明的樣品：

光學(xué)顯微鏡要求樣品B須是透明或半透明的，以便光線(xiàn)能夠穿透樣品并形成圖像。因此，不透明的樣品，如頭發(fā)絲、厚實(shí)的金屬塊、巖石等，在光學(xué)顯微鏡下是無(wú)法直接觀(guān)察到的。

過(guò)厚的樣品：

光學(xué)顯微鏡對(duì)樣品的厚度有一定要求。如果樣品過(guò)厚，光線(xiàn)將無(wú)法穿透樣品，導(dǎo)致無(wú)法形成清晰的圖像。因此，較厚的樣品需要進(jìn)行切片或研磨等減薄處理后才能進(jìn)行觀(guān)察。

表面不平整的樣品：

樣品表面如果存在明顯的起伏或隆起，會(huì)影響光線(xiàn)的入射角和反射角，導(dǎo)致圖像失真。因此，對(duì)于表面不平整的樣品，需要進(jìn)行適當(dāng)?shù)奶幚?，如拋光或研磨，以獲得平整的表面。

動(dòng)態(tài)變化的活細(xì)胞：

雖然光學(xué)顯微鏡可以用于觀(guān)察細(xì)胞或組織的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，但對(duì)于需要觀(guān)察活細(xì)胞的動(dòng)態(tài)變化時(shí)，由于活細(xì)胞在顯微鏡下的活動(dòng)可能導(dǎo)致圖像模糊或失真，因此需要使用特殊的培養(yǎng)基和顯微鏡技術(shù)，如相差顯微鏡、熒光顯微鏡等，以保持細(xì)胞的活性和穩(wěn)定性。

分辨率受限的微小結(jié)構(gòu)：

光學(xué)顯微鏡的分辨率受限于光的波長(zhǎng)，因此無(wú)法顯示比波長(zhǎng)更小的物體。這意味著直徑小于約200納米的細(xì)胞器和分子在光學(xué)顯微鏡下是無(wú)法直接觀(guān)察到的。對(duì)于這些微小結(jié)構(gòu)，需要使用更高分辨率的顯微鏡技術(shù)，如電子顯微鏡或原子力顯微鏡。

總結(jié)來(lái)說(shuō)，光學(xué)顯微鏡下不能輕易看見(jiàn)的樣品主要包括不透明、過(guò)厚、表面不平整以及需要進(jìn)行動(dòng)態(tài)觀(guān)察的樣品，同時(shí)對(duì)于一些微小結(jié)構(gòu)，由于光學(xué)顯微鏡的分辨率限制，也無(wú)法直接觀(guān)察。對(duì)于這些樣品，需要使用特殊的制備技術(shù)和更高分辨率的顯微鏡技術(shù)進(jìn)行觀(guān)察和分析。