1. 定性分析

EDS可以識(shí)別樣品中的元素，通過檢測(cè)特征X射線峰來確定元素的存在。

元素識(shí)別：檢測(cè)并識(shí)別樣品中的所有元素，通常范圍從硼（B）到鈾（U）。

光譜分析：顯示樣品的X射線光譜圖，通過光譜中的特征峰來識(shí)別不同元素。

2. 定量分析

EDS不僅可以識(shí)別元素，還可以定量分析其含量。

元素含量：通過分析X射線峰的強(qiáng)度，計(jì)算樣品中各元素的重量百分比和原子百分比。

標(biāo)準(zhǔn)化方法：使用標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行校準(zhǔn)，提高定量分析的準(zhǔn)確性。

3. 面掃描分析（Mapping）

EDS可以生成元素分布圖，顯示樣品表面各元素的空間分布情況。

元素分布圖：通過面掃描技術(shù)，生成樣品表面各元素的二維分布圖像。

多元素映射：同時(shí)生成多個(gè)元素的分布圖，顯示不同元素在樣品中的共存和分布關(guān)系。

4. 線掃描分析（Line Scan）

通過沿指定的線掃描樣品表面，顯示元素沿該線的分布情況。

線掃描圖：沿指定線段掃描，顯示各元素信號(hào)強(qiáng)度隨位置的變化。

定量剖面：提供定量的元素分布剖面圖，顯示各元素在掃描線上的濃度變化。

5. 點(diǎn)分析（Spot Analysis）

對(duì)樣品的特定點(diǎn)進(jìn)行詳細(xì)的元素分析，適用于微小區(qū)域或特征的成分分析。

單點(diǎn)分析：對(duì)樣品中的某個(gè)特定微小區(qū)域進(jìn)行詳細(xì)的元素分析。

多點(diǎn)分析：在樣品不同點(diǎn)位進(jìn)行成分分析，比較不同區(qū)域的元素組成。

6. 厚度分析

利用EDS分析薄膜或多層結(jié)構(gòu)樣品的厚度。

薄膜厚度：通過分析特征X射線信號(hào)的衰減，估算薄膜或多層結(jié)構(gòu)的厚度。

分層結(jié)構(gòu)：分析樣品的多層結(jié)構(gòu)，確定每一層的厚度和元素組成。

7. 相分析

通過結(jié)合元素分布信息，對(duì)樣品中的不同相進(jìn)行分析。

相識(shí)別：根據(jù)元素組成和分布，識(shí)別樣品中的不同相或化合物。

相對(duì)比：分析不同相的元素組成和相互分布關(guān)系。

8.實(shí)際操作步驟

樣品準(zhǔn)備：確保樣品表面導(dǎo)電，必要時(shí)進(jìn)行導(dǎo)電處理（如涂覆金屬層）。

SEM成像：使用SEM獲取高分辨率圖像，確定分析區(qū)域。

EDS設(shè)置：選擇適當(dāng)?shù)腅DS分析參數(shù)，如加速電壓、束流強(qiáng)度和采集時(shí)間。

數(shù)據(jù)采集：定性分析：采集X射線光譜，識(shí)別樣品中的元素。

定量分析：根據(jù)光譜峰值強(qiáng)度計(jì)算元素含量。

面掃描和線掃描：進(jìn)行元素分布圖和線掃描圖的采集。

點(diǎn)分析：對(duì)特定點(diǎn)進(jìn)行詳細(xì)成分分析。

數(shù)據(jù)處理和分析：使用EDS軟件處理數(shù)據(jù)，生成光譜圖、分布圖和定量結(jié)果。

解釋和分析結(jié)果，確定樣品的成分和結(jié)構(gòu)信息。

通過這些分析功能，SEM-EDS可以為材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、生物學(xué)、冶金學(xué)等領(lǐng)域提供詳細(xì)的元素成分和分布信息。

澤攸科技ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡