產(chǎn)品關(guān)鍵詞：多通道電致器件穩(wěn)定性測試、多通道電致器件壽命測試、電致發(fā)光、IVL、電致發(fā)光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件壽命、外量子效率、發(fā)光量子產(chǎn)率測量系統(tǒng)、多通道、電致發(fā)光器件老化系統(tǒng)、光譜功率分布（ λ）、光譜功率分布（ λ）、光通量、相關(guān)色溫（CCT）、顯色指數(shù)（CRI）、電功率密度

多通道電致發(fā)光特性測量系統(tǒng)EL-Lab是東譜科技 HiOE 綜合發(fā)光特性測量平臺中的重要成員，與東譜科技的電致發(fā)光特性測量系統(tǒng) HiYield 共同為行業(yè)提供了完善的電致發(fā)光的測量方案。該系統(tǒng)由一系列相應的分布測量組件組成，包括光電測量模塊、亮度校準模塊、光譜測量模塊等。利用該系統(tǒng)組件的分布特性，可以靈活搭建適用于不同類型器件的測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以便捷地擴展測量通道數(shù)量，且可以為不同的測試通道配備相同或者差異的測試功能，從而可以適應豐富的測量場景，如批量測量、手套箱測量、變溫測量、老化測量等。

EL-Lab可實現(xiàn)多通道批量測量；可放進手套箱內(nèi)測試；支持長時間的多個器件的老化測試； 支持寬溫度范圍的變溫測試；全面的電致發(fā)光測量參數(shù)等特點。

EL-Lab測試功能包括發(fā)光效率參數(shù)：外量子效率、電流效率、功率效率等；電學參數(shù)：電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率密度等； 輻射度學參數(shù)： 光譜功率分布、輻射通量、光視效能、主波長等 ；光度學參數(shù)：亮度、光通量等；色度學參數(shù)： CIE 色度坐標、相關(guān)色溫（CCT）、MK-1、顯色指數(shù)等 ；器件老化參數(shù)：不同老化時間下的上述參數(shù)；變溫測量等；多通道電致器件穩(wěn)定性測試、多通道電致器件壽命測試、電致發(fā)光、IVL、電致發(fā)光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件壽命、外量子效率、發(fā)光量子產(chǎn)率測量系統(tǒng)等。