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X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。其原理是用X光激發(fā)源照射待分析的油樣，樣品中硫元素的內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候，會放射出硫元素的特征 X 光。檢測器(Detector)接受這些硫元素的特征X光信號，儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)為對應的測試強度。用標準物質(zhì)樣品建立特征X射線強度與硫含量之間的關(guān)系，也就是標定曲線。在建立了硫元素不同含量范圍的標定曲線后，再去測試未知樣品，便可快速分析石油及其他液體中的硫含量。
參考樣和待測樣品被置于同一載樣臺板上。當取樣孔可以取樣時，參考樣位于測量位置，此時顯示屏右下角有：“參考樣位于測量位置”字樣，當擋板蓋住取樣孔時，待測樣位于測量位置，此時顯示屏左下角有：“待測樣位于測量位置”字樣。
樣品臺板只能處于測“參考樣”位置或測“待測樣”位置，不能處于其它任何中間位置，處于其它位置儀器將報警，也不能正常工作。
儀器在不測含量時，載樣處于測“參考樣”位置。儀器自動對參考樣采樣，且采用當前的數(shù)據(jù)平均值，供儀器測量含量時使用，這樣儀器一直處于等待狀態(tài)，放入待測樣就可以分析。
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